TESTINGSとは 意味・読み方・使い方

For a region having a large personal deviation, previous testings are performed using a plurality of combinations of wave lengths, the wave length is selected based on the calculated measuring errors.例文帳に追加

また、個人差が大きい部位に関しては、複数の波長組み合わせを用いて事前テスト計測を行い、算出された計測誤差を基準に波長を選択する。 - 特許庁

To provide a hot-water refrigerant heating air conditioner for stopping the operation of an alarming device for a given period of time, when an antifreeze solution serving as a heating medium is supplied during initial operation, such as trial testings, and operation of a circulation pump is continued.例文帳に追加

試運転等の初回運転時に、熱媒としての不凍液を給水するに際し、所定時間警報装置の作動を停止させると共に、循環ポンプの運転を継続させるようにした温水冷媒加熱エアコンの提供。 - 特許庁

While various testings are usually conducted in compliance with the purpose, objective, and regulatory requirements of regulatory laws, the period during which a testing is conducted cannot be regarded as the period during which the patented invention was unable to be worked unless the testing satisfies all of the requirements listed in (i) to (iii) below.発音を聞く 例文帳に追加

規制法の目的、趣旨及び内容により、多種多様な試験が行われているが、以下の①－③のすべての要件を満たす試験を行う期間でなければ、「特許発明の実施をすることができなかった期間」に含めることはできない。 - 特許庁

To enable a required material testing to be carried out even by a person other than an expert engineer, without the need for understanding the standards, and to reduce the possibility of incorrect execution in the test as reduced as possible, when the material testings are carried out pursunat to various standards.例文帳に追加

各種規格に則った材料試験を行うに当たり、その規格を理解することなく、専門技術者でなくとも所要の試験を行うことができ、また、間違った試験を行う可能性を可及的に少なくすることのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁

To make it possible to increase the testing efficiency by simultaneously making a plurality of testings in one time contact doing no damage to terminal pads in a semiconductor integrated circuit in order to test the wafer status in the circuit wherein the pin numbers required by the testing items are notably differentiated.例文帳に追加

試験項目により必要とされるピン数が大きく異なる半導体集積回路をウェハ状態で試験するに際し、半導体集積回路の端子パッドを痛めることなく、１回の接触で同時に複数の試験を行い、試験効率をあげることができる半導体集積回路試験装置及び試験方法の提供。 - 特許庁

As cyclic hexapeptide and octapeptide compounds, cyclo[Leu-Arg-Trp-Gly-Leu-Arg-Trp-Gly], cyclo[Tyr-Trp-Leu-Arg-Nal-Gly] (wherein, Nal is naphthylalanine), and the like are confirmed their antagonism by using conventional competitive binding, biochemical assays and conventional physiological testings.例文帳に追加

特定構造の環状のヘキサペプチド、及びオクタペプチド化合物例として、シクロ［Ｌｅｕ−Ａｒｇ−Ｔｒｐ−Ｇｌｙ−Ｌｅｕ−Ａｒｇ−Ｔｒｐ−Ｇｌｙ］、シクロ［Ｔｙｒ−Ｔｒｐ−Ｌｅｕ−Ａｒｇ−Ｎａｌ−Ｇｌｙ］（ここにＮａｌはナフチルアラニンを示す。）などが慣用の競争的な結合及び生化学的検定、並びに慣用の生理学的な試験を用いて、その拮抗作用が確認された。 - 特許庁

To provide a constitution enabling necessary measurements and testings in measuring electrostatic discharge resistance and electrostatic discharge failure tests in a continuity state, after the element voltage prior to a similar trigger state, by setting low the value of the input line voltage, and while maintaining at the increase rate of the input line voltage a low value.例文帳に追加

静電気放電耐性特性の測定、及び静電気破壊試験において、同程度のトリガー状態以前の素子電圧の後における導通状態において、入力ライン電圧の値を低く設定し、更には当該入力ライン電圧の上昇率を低い値としながら必要な測定及び試験を可能とする構成を提供すること。 - 特許庁