「testing method」に関連した英語例文の一覧と使い方(55ページ目) - Weblio英語例文検索

TAPE CARRIER PACKAGE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND METHOD OF TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体集積回路のテープキャリアパッケージおよびその試験方法 - 特許庁

METHOD FOR OBTAINING ELECTRICAL CHARACTERISTIC CORRELATION OF SOCKET IN ELECTRONIC PART-TESTING APPARATUS, HANDLER, METHOD FOR CONTROLLING HANDLER AND ELECTRONIC PART-TESTING APPARATUS例文帳に追加

電子部品試験装置におけるソケットの電気特性相関取得方法、ハンドラ、ハンドラの制御方法および電子部品試験装置 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR ELECTROSTATIC DISCHARGE TESTING OF DEVICE CHARGED MODEL例文帳に追加

デバイス帯電モデルの静電気放電試験のためのシステム及び方法 - 特許庁

MOTOR FUNCTION TESTING APPARATUS AND METHOD FOR COMPARING PHASES BETWEEN MOTOR WAVEFORMS例文帳に追加

運動機能検査装置および運動波形間の位相比較方法 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR POWER SEMICONDUCTOR ELEMENT, AND TEST METHOD USING IT例文帳に追加

パワー半導体素子の試験装置およびこれを用いた試験方法 - 特許庁

RADIO BASE STATION DEVICE, CONNECTION TESTING METHOD, AND RADIO BASE STATION SYSTEM例文帳に追加

無線基地局装置、及び、接続試験方法、無線基地局システム - 特許庁

NONDESTRUCTIVE TESTING METHOD FOR UNDERWATER CONCRETE STRUCTURE USING REBOUND HAMMER例文帳に追加

リバウンドハンマーを用いた水中コンクリート構造物非破壊試験方法 - 特許庁

ATTACHING/REMOVING DEVICE, TEST HEAD, SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND ATTACHING/REMOVING METHOD例文帳に追加

着脱装置、テストヘッド、半導体試験装置及び着脱方法 - 特許庁

BASE STATION SIMULATOR AND TRANSMISSION POWER CONTROL PERFORMANCE TESTING METHOD例文帳に追加

基地局シミュレータ装置及び送信電力制御性能試験方法 - 特許庁

FLIP-CHIP SEMICONDUCTOR PACKAGE FOR TESTING BUMPS AND METHOD OF FABRICATING SAME例文帳に追加

バンプテストのためのフリップチップ半導体パッケージ及びその製造方法 - 特許庁

FILTER MODULE FOR LOW TEMPERATURE LIQUID AND METHOD FOR TESTING INTEGRITY OF THE SAME例文帳に追加

低温液体用フィルターモジュールおよびその完全性試験方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING MANY DEVICES UNDER TEST IN PARALLEL例文帳に追加

多数の被試験素子を並列に検査するテストシステム及びテスト方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING SECURITY HOLE AND RECORDING MEDIUM例文帳に追加

セキュリティホール検査システム、セキュリティホール検査方法および記録媒体 - 特許庁

METHOD AND CIRCUIT FOR TESTING MEMORY CELL IN MULTIVALUE STORAGE DEVICE例文帳に追加

多値記憶装置内のメモリセルをテストするための方法および回路 - 特許庁

METHOD AND DEVICE OF TESTING HYDRAULIC PRESSURE FOR PIPE WITH SMALL OR MEDIUM-SIZED BORE例文帳に追加

中小口径管用水圧試験方法及びその試験器 - 特許庁

ATM EXCHANGE AND METHOD FOR TESTING LINE DEVICE FOR THE ATM EXCHANGE例文帳に追加

ＡＴＭ交換機及びそれにおける回線装置の試験方法 - 特許庁

MANUFACTURING METHOD, SWITCH DEVICE, TRANSMISSION CHANNEL SWITCHING DEVICE, AND TESTING DEVICE例文帳に追加

製造方法、スイッチ装置、伝送路切り替え装置、および試験装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING CHARGE/DISCHARGE OF BATTERY例文帳に追加

電池の充放電試験装置および電池の充放電試験方法 - 特許庁

To provide a method and a device for testing an examined device.例文帳に追加

被試験デバイスを試験するための方法及び装置を提供する。 - 特許庁

IMAGE PROCESSOR, AND DEVICE AND METHOD FOR AUTOMATICALLY TESTING DIMENSION例文帳に追加

画像処理装置、自動寸法検査装置、自動寸法検査方法 - 特許庁

METHOD AND SYSTEM FOR TESTING RAM REDUNDANT INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

ＲＡＭ冗長集積回路をテストするための方法およびシステム - 特許庁

METHOD OF TESTING DOCUMENT PROVIDED WITH OPTICO-DIFFRACTIVELY EFFECTIVE SAFETY LAYER例文帳に追加

回折光学的有効安全層を備えたドキュメントの検査方法 - 特許庁

PRINTED WIRING BOARD AND RELIABILITY TESTING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

プリント配線基板及びプリント配線基板の信頼性試験方法 - 特許庁

APPARATUS FOR PUSHING AND HITTING TESTING OF DEVICE- MOUNTED SUBSTRATE AND ITS TEST METHOD例文帳に追加

デバイス実装済み基板の押打試験装置及びその試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD OF TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体集積回路及び半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁

METHOD FOR SECURING DATA IN MACHINE FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENTS例文帳に追加

電子構成部品を試験するための機械にデ—タを確保する方法 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TESTING PRESSURE RELIEF IN ZINC OXIDE TYPE LIGHTING ARRESTER例文帳に追加

酸化亜鉛形避雷器の放圧試験方法及び放圧試験装置 - 特許庁

CALL CENTER SYSTEM, COMMUNICATION TERMINAL, COMMUNICATION TESTING METHOD, AND COMPUTER PROGRAM例文帳に追加

コールセンタシステム、通信端末、通信試験方法、およびコンピュータプログラム - 特許庁

STEERING COLUMN EVALUATION TESTING DEVICE AND STEERING COLUMN EVALUATION TEST METHOD例文帳に追加

ステアリングコラム評価試験装置、およびステアリングコラム評価試験方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING ABILITY OF IONTOPHORETIC RESERVOIR- ELECTRODE TO DELIVER MEDICAMENT例文帳に追加

イオン導入リザーバ電極の薬剤デリバリ能力を試験する方法 - 特許庁

APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR MEMORY, AND METHOD FOR DETECTING ITS DEFECTIVE OPERATION例文帳に追加

半導体メモリ試験装置およびその動作不良検出方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加

半導体集積回路、および半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁

CORROSION RESISTANCE TESTING METHOD AND EQUIPMENT FOR METALLIC MATERIAL例文帳に追加

金属材料の耐食性試験方法及び耐食性試験装置 - 特許庁

METHOD FOR CONTROLLING BRAKE PRESSING FORCE AND BRAKE TORQUE FOR BRAKE TESTING例文帳に追加

ブレーキ試験におけるブレーキ押付け力とブレーキトルクの制御方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS, WAVEFORM DISPLAY METHOD, AND WAVEFORM DISPLAY PROGRAM例文帳に追加

半導体試験装置、波形表示方法および波形表示プログラム - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路及び半導体集積回路の試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE, ITS TESTING METHOD, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体装置およびその試験方法、および半導体集積回路 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路および半導体集積回路の検査方法 - 特許庁

TESTING LINE OF MOTHERBOARD IN THIN FILM TRANSISTOR, AND MANUFACTURING METHOD例文帳に追加

薄膜トランジスターにおけるマザーボードのテストラインおよびその製造方法 - 特許庁

METHOD OF SYNTHESIS AND TESTING OF COMBINATORIAL LIBRARY USING MICROCAPSULE例文帳に追加

マイクロカプセルを用いたコンビナトリアルライブラリの合成および試験の方法 - 特許庁

TEG PATTERN, TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR ELEMENT USING THE PATTERN例文帳に追加

テグパターン及びそのパターンを利用した半導体素子の検査方法 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR TESTING RADIO FREQUENCY INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

無線周波数集積回路を試験するためのシステムおよび方法 - 特許庁

NETWORK TESTING METHOD AND SYSTEM AND ITS PROGRAM AND RECORD MEDIUM例文帳に追加

ネットワーク試験方法およびシステム、ならびにそのプログラムと記録媒体 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR TRANSFERRING AND TESTING SEMICONDUCTOR SUBSTRATE例文帳に追加

半導体基板を移送および検査するための方法および装置 - 特許庁

TESTING DEVICE AND PRODUCTION METHOD OF A/D CONVERTER例文帳に追加

Ａ／Ｄ変換器試験装置及びＡ／Ｄ変換器の生産方法 - 特許庁