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testing methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 5388件
TEST EQUIPMENT AND TESTING METHOD例文帳に追加
試験装置及び試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING OPTICAL ELEMENT ARRAY例文帳に追加
光素子アレイの試験方法 - 特許庁
RADIOGRAPHIC TESTING APPARATUS, RADIOGRAPHIC TESTING METHOD AND RADIOGRAPHIC TESTING PROGRAM例文帳に追加
放射線検査装置、放射線検査方法および放射線検査プログラム - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS, SEMICONDUCTOR TESTING METHOD AND SEMICONDUCTOR TESTING PROGRAM例文帳に追加
半導体試験装置、半導体試験方法および半導体試験プログラム - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, SEMICONDUCTOR TESTING PROGRAM AND SEMICONDUCTOR TESTING METHOD例文帳に追加
半導体試験装置、半導体試験プログラムおよび半導体試験方法 - 特許庁
TESTING WAVEFORM SUPPLY METHOD, SEMICONDUCTOR TESTING METHOD, DRIVER, AND SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUST例文帳に追加
試験波形供給方法、半導体試験方法、ドライバ、及び半導体試験装置 - 特許庁
CALIBRATION METHOD FOR SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS, THE SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS, AND SEMICONDUCTOR TESTING METHOD例文帳に追加
半導体試験装置の校正方法、半導体試験装置、半導体試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING RADIO COMMUNICATIONS EQUIPMENT例文帳に追加
無線通信機器試験方法 - 特許庁
WAFER TESTING METHOD AND PROBE CARD例文帳に追加
ウェハテスト方法及びプローブカード - 特許庁
TESTING METHOD FOR DATA PROCESSOR例文帳に追加
データ処理装置の試験方法 - 特許庁
METHOD OF TESTING SOLDER HEAT RESISTANCE例文帳に追加
はんだ耐熱性試験方法 - 特許庁
TESTING APPARATUS AND MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
試験装置及び製造方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING TRANSACTION COMPETITION例文帳に追加
トランザクション競合試験方式 - 特許庁
LAYER SHORT CIRCUIT TESTING METHOD FOR COIL例文帳に追加
コイルのレアーショート試験方法 - 特許庁
HORIZONTAL LOAD TESTING METHOD OF PILE例文帳に追加
杭の水平載荷試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING PRINTED CIRCUIT BOARD例文帳に追加
プリント回路板の試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の検査方法 - 特許庁
INTERPOSER TESTING STRUCTURE AND METHOD例文帳に追加
インターポーザ試験構造と方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING MAGNETIC SENSOR MODULE例文帳に追加
磁気センサモジュールの検査方法 - 特許庁
INVERTER TESTING DEVICE, INVERTER TESTING METHOD, AND INVERTER MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
インバータ試験装置、インバータの試験方法、インバータの製造方法 - 特許庁
SUBSTRATE TESTING METHOD AND SUBSTRATE TESTING DEVICE USING SAME METHOD例文帳に追加
基板検査方法およびこの方法を用いた基板検査装置 - 特許庁
TESTING METHOD, TESTING DEVICE AND METHOD FOR PRODUCING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
試験方法、試験装置及び半導体装置の製造方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING WHOLE CHANNEL LOOP BACK TESTING METHOD FOR RELAY AND SWITCHING DEVICE例文帳に追加
中継器用全チャネルループバック試験方法及び切替装置 - 特許庁
ALLERGIC DISEASE TESTING METHOD例文帳に追加
アレルギー性疾患の検査方法 - 特許庁
ANALYTICAL APPARATUS AND TESTING METHOD例文帳に追加
分析装置及び検査方法 - 特許庁
TESTING METHOD FOR PRINTED CIRCUIT BOARD例文帳に追加
プリント回路板の試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD OF DISK DRIVE例文帳に追加
ディスク・ドライブ装置のテスト方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING UNVULCANIZED CARCASS PLY例文帳に追加
未加硫カーカスプライの試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR CIRCUIT AND TESTING METHOD例文帳に追加
半導体回路と試験方法 - 特許庁
TESTING PIECE FOR IMMUNOLOGICAL MEASUREMENT METHOD例文帳に追加
免疫測定法用試験片 - 特許庁
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