| 意味 | 例文 |
testing methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 5388件
SEMICONDUCTOR WAFER TESTING METHOD例文帳に追加
半導体ウェアの試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING METHOD例文帳に追加
半導体装置の試験方法 - 特許庁
GROUND BEARING CAPACITY TESTING APPARATUS AND GROUND BEARING CAPACITY TESTING METHOD例文帳に追加
地耐力試験装置および地耐力試験方法 - 特許庁
ELECTRONIC INTERLOCKING SYSTEM, TESTING DEVICE, AND TESTING METHOD例文帳に追加
電子連動システム及び試験装置と試験方法 - 特許庁
POWER-CYCLE TESTING DEVICE AND POWER-CYCLE TESTING METHOD例文帳に追加
パワーサイクル試験装置およびパワーサイクル試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD, TESTING PROGRAM, AND INFORMATION PROCESSING UNIT例文帳に追加
試験方法、試験プログラム、及び情報処理装置 - 特許庁
TEST CONTAINER, TEST SPECIMEN, TESTING KIT AND TESTING METHOD例文帳に追加
試験容器、試験片、試験キットおよび試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE, AND TESTING DEVICE AND TESTING METHOD THEREFOR例文帳に追加
半導体装置とそのテスト装置及びテスト方法。 - 特許庁
TESTING SYSTEM AND TESTING METHOD OF WIRELESS COMMUNICATION APPARATUS例文帳に追加
無線通信機器の試験システムおよび試験方法 - 特許庁
TESTING CIRCUIT OF INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND METHOD FOR TESTING例文帳に追加
集積回路装置のテスト回路及びテスト方法 - 特許庁
DEVICE FOR TESTING LENS ARRAY AND METHOD FOR TESTING LENS例文帳に追加
レンズアレイの検査装置およびレンズの検査方法 - 特許庁
DEVICE TESTING MECHANISM, HANDLER, AND TESTING METHOD OF DEVICE例文帳に追加
デバイス試験機構、ハンドラおよびデバイスの試験方法 - 特許庁
MULTIPOLAR CONNECTOR CONTINUITY TESTING DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
多極コネクタ用導通検査器および検査方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR WAFER TESTING DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
半導体ウエハ試験装置およびその試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND SEMICONDUCTOR TESTING METHOD例文帳に追加
半導体試験装置および半導体試験方法 - 特許庁
OPTICAL PATH TESTING DEVICE AND OPTICAL PATH TESTING METHOD例文帳に追加
光線路試験装置及び光線路試験方法 - 特許庁
MONITORING APPARATUS AND TESTING METHOD例文帳に追加
モニタ装置および試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR CIRCUIT例文帳に追加
半導体回路のテスト方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING NUCLEIC ACID SEQUENCE例文帳に追加
核酸配列の検査方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING OPTICAL FIBER CORD例文帳に追加
光ファイバコードの試験方法 - 特許庁
lgA NEPHROPATHY TESTING METHOD例文帳に追加
IgA腎症の検査方法 - 特許庁
METHOD OF TESTING DISCOLORATION OF RESIN例文帳に追加
樹脂の変色試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD FOR LIQUID CRYSTAL DEVICE例文帳に追加
液晶装置の試験方法 - 特許庁
OPTICAL FIBER CABLE TESTING METHOD例文帳に追加
光ファイバケーブルの試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD OF CHIP SCALE PACKAGE例文帳に追加
チップスケールパッケージのテスト方法 - 特許庁
ELECTRONIC DEVICE AND TESTING METHOD例文帳に追加
電子デバイス、及び試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加
半導体ウェハーのテスト方法 - 特許庁
AIRTIGHTNESS TESTING METHOD AND DEVICE例文帳に追加
気密試験方法及び装置 - 特許庁
METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置のテスト方法 - 特許庁
| 意味 | 例文 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|