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testing methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 5388件
METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加
半導体ウエハのテスト法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING VIDEO SYNCHRONIZATION例文帳に追加
映像同期試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING AIRTIGHTNESS PERFORMANCE例文帳に追加
気密性能試験方法 - 特許庁
COMPRESSION FATIGUE TESTING METHOD例文帳に追加
圧縮疲労試験方法 - 特許庁
PROGRAM UNIT TESTING METHOD例文帳に追加
プログラム単体試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING CYTOTOXICITY例文帳に追加
細胞毒性試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING COMMUNICATION PATH例文帳に追加
通信経路試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD FOR IMPERVIOUS SHEET例文帳に追加
遮水シート検査方式 - 特許庁
METHOD FOR TESTING NEUROTOXICITY例文帳に追加
神経毒性試験方法 - 特許庁
FREEZING-THAWING TESTING METHOD例文帳に追加
凍結融解試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING SECONDARY BATTERY例文帳に追加
二次電池の検査方法 - 特許庁
TESTING METHOD OF AND TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR CIRCUIT例文帳に追加
半導体回路のテスト方法および装置 - 特許庁
TESTING METHOD AND TESTING DEVICE FOR ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加
電子部品の試験方法および試験装置 - 特許庁
MAIN SIGNAL LOAD TESTING DEVICE AND TESTING METHOD例文帳に追加
主信号負荷試験装置及び試験方法 - 特許庁
TESTING DEVICE, AND METHOD OF TESTING ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加
試験装置及び電子デバイスの試験方法 - 特許庁
ELECTROLYTE LEAKAGE TESTING DEVICE AND TESTING METHOD例文帳に追加
電解液漏れ検査装置および検査方法 - 特許庁
COATING FILM TESTING METHOD AND COATING FILM TESTING APPARATUS例文帳に追加
塗膜検査方法及び塗膜検査装置 - 特許庁
TESTING METHOD AND TESTING CIRCUIT FOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
集積回路のテスト方法およびテスト回路 - 特許庁
TESTING METHOD OF OSCILLATOR AND TESTING DEVICE FOR OSCILLATOR例文帳に追加
発振器試験方法・発振器試験装置 - 特許庁
WEATHERABILITY TESTING DEVICE AND WEATHERABILITY TESTING METHOD例文帳に追加
耐候性試験装置及び耐候性試験方法 - 特許庁
ELECTROMAGNETIC WAVE LEAK TESTING SYSTEM AND TESTING METHOD例文帳に追加
電磁波漏洩試験システム及び試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING DEVICE AND TESTING METHOD例文帳に追加
半導体デバイス試験装置及び試験方法 - 特許庁
WATER PENETRATION TESTING MACHINE AND WATER PENETRATION TESTING METHOD例文帳に追加
透水試験装置及び透水試験方法 - 特許庁
ENVIRONMENT TESTING METHOD AND ENVIRONMENT TESTING DEVICE例文帳に追加
環境試験方法及び環境試験装置 - 特許庁
TESTING DEVICE AND TESTING METHOD OF BATTERY PACK例文帳に追加
試験装置および電池パックの試験方法 - 特許庁
CLIP TESTER, CLIP TESTING METHOD, CLIP TESTING DEVICE, AND CLIP TESTING PROGRAM例文帳に追加
クリップテスタ、クリップ試験方法、クリップ試験装置、クリップ試験プログラム - 特許庁
TESTING EXECUTION DEVICE, TESTING EXECUTION METHOD, AND TESTING EXECUTION PROGRAM例文帳に追加
試験実行装置、試験実行方法および試験実行プログラム - 特許庁
PROTOCOL TESTING DEVICE, PROTOCOL TESTING METHOD, AND PROTOCOL TESTING PROGRAM例文帳に追加
プロトコル試験装置、プロトコル試験方法およびプロトコル試験プログラム - 特許庁
ANALYSIS DEVICE, SENSOR TESTING DEVICE, TESTING METHOD AND TESTING PROGRAM例文帳に追加
分析装置、センサの検査装置、検査方法、及び検査プログラム - 特許庁
MODULE TESTING DEVICE, MODULE TESTING METHOD, AND MODULE TESTING PROGRAM例文帳に追加
モジュール試験装置、モジュール試験方法およびモジュール試験プログラム - 特許庁
TESTING METHOD FOR ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加
電子部品の試験方法 - 特許庁
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