| 意味 | 例文 |
testing methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 5388件
TESTING METHOD OF MEDIA CONVERTER例文帳に追加
メディアコンバータの試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING ELECTRONIC COMPONENT例文帳に追加
電子部品の検査方法 - 特許庁
MAGNETIC LEAKAGE FLUX TESTING METHOD例文帳に追加
漏洩磁束探傷方法 - 特許庁
TESTING METHOD OF CHARACTERISTIC OF VIBRATOR例文帳に追加
振動子特性試験法 - 特許庁
DYNAMIC WIND TUNNEL TESTING METHOD例文帳に追加
動的風洞試験方法 - 特許庁
INSULATION TESTING METHOD OF MOTORS例文帳に追加
モータの絶縁試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD OF STICK SLIP例文帳に追加
スティックスリップの試験方法 - 特許庁
INTEGRATED CIRCUIT TESTING METHOD例文帳に追加
集積回路のテスト方法 - 特許庁
HYDROPHILIC STATE TESTING METHOD例文帳に追加
親水状態検査方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING METHOD AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE USING THIS TESTING METHOD例文帳に追加
半導体試験方法及びその試験方法を用いた半導体試験装置 - 特許庁
SYSTEM FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE, AND METHOD OF TESTING例文帳に追加
半導体装置のテストシステムおよびテスト方法 - 特許庁
POWDER CHARACTERISTIC TESTING MACHINE AND CHARACTERISTIC TESTING METHOD例文帳に追加
粉体特性装置及び特性試験方法 - 特許庁
APPARATUS FOR AUTOMATICALLY TESTING SECONDARY CELL AND TESTING METHOD例文帳に追加
二次電池自動試験装置及び試験方法 - 特許庁
The present invention provides a tire testing method and testing device.例文帳に追加
タイヤの試験方法及び試験装置である。 - 特許庁
DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR AND METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR例文帳に追加
半導体検査装置、半導体検査方法 - 特許庁
UNDERWATER TESTING DEVICE AND UNDERWATER TESTING METHOD例文帳に追加
水中検査装置および水中検査方法 - 特許庁
TESTING DEVICE AND TESTING METHOD FOR STORAGE SYSTEM例文帳に追加
ストレージシステムの試験装置及び同試験方法 - 特許庁
TESTING CIRCUIT, TESTING METHOD, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
テスト回路、テスト方法、半導体集積回路 - 特許庁
INDOOR TIRE DURABILITY TESTING METHOD AND TESTING MACHINE例文帳に追加
室内タイヤ耐久試験方法及び試験機 - 特許庁
CIRCUIT FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加
集積回路の試験回路及び試験方法 - 特許庁
TESTING EQUIPMENT, TERMINAL EQUIPMENT, AND TESTING METHOD例文帳に追加
試験装置及び端末装置及び試験方法 - 特許庁
WEATHERING LIGHT TESTING METHOD AND WEATHERING LIGHT TESTING MACHINE例文帳に追加
耐候光試験方法及び耐候光試験機 - 特許庁
INTERNAL PRESSURE TESTING MACHINE AND INTERNAL PRESSURE TESTING METHOD例文帳に追加
内圧試験装置および内圧試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING HELIUM LEAKAGE AND DEVICE FOR TESTING HELIUM LEAKAGE例文帳に追加
ヘリウムリークテスト方法及びヘリウムリークテスト装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING SYSTEM AND TESTING METHOD例文帳に追加
半導体装置の試験システム及び試験方法 - 特許庁
TESTING APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR WAFER, AND TESTING METHOD例文帳に追加
半導体ウエハの試験装置及び試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND SEMICONDUCTOR TESTING METHOD例文帳に追加
半導体テスト装置及び半導体テスト方法 - 特許庁
RUBBER ROLL TESTING DEVICE, AND RUBBER ROLL TESTING METHOD例文帳に追加
ゴムロール試験装置およびゴムロール試験方法 - 特許庁
INTERNAL PRESSURE TESTING DEVICE AND INTERNAL PRESSURE TESTING METHOD例文帳に追加
内圧試験装置および内圧試験方法 - 特許庁
DURABILITY TESTING METHOD FOR TIRE例文帳に追加
タイヤの耐久試験方法 - 特許庁
ELECTRON BEAM TESTER AND TESTING METHOD例文帳に追加
電子ビームテスタ、試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING EXCHANGE SYSTEM例文帳に追加
交換システムの試験方法 - 特許庁
NEW METHOD FOR TESTING MUTAGENICITY例文帳に追加
新規変異原性試験法 - 特許庁
METHOD OF TESTING DISTRIBUTION EQUIPMENT例文帳に追加
配電設備の試験方法 - 特許庁
3. Processing and testing method 例文帳に追加
ハ 工作及び試験方法 - 日本法令外国語訳データベースシステム
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| ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
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