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「testing method」に関連した英語例文の一覧と使い方(11ページ目) - Weblio英語例文検索


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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > testing methodの意味・解説 > testing methodに関連した英語例文

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testing methodの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 5388



例文

TESTING DEVICE OF OIL PERMEATION PROPERTY AND TESTING METHOD OF OIL PERMEATION PROPERTY例文帳に追加

通油性試験装置および通油性試験方法 - 特許庁

STRENGTH TESTING MACHINE OF NET MATERIAL AND STRENGTH TESTING METHOD USING IT例文帳に追加

網体の強度試験装置及び強度試験方法 - 特許庁

DEVICE TO BE TESTED, TESTING SYSTEM, TESTING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

試験対象装置、試験システム、テスト方法及びプログラム - 特許庁

CAPACITOR TESTING APPARATUS AND METHOD OF TESTING CAPACITOR USING THE SAME例文帳に追加

コンデンサの検査装置及びこれを用いた検査方法 - 特許庁

例文

TESTING TOOL OF MCM, AND TESTING METHOD OF MCM例文帳に追加

MCMのテスト用治具およびMCMのテスト手法 - 特許庁


例文

TESTING DEVICE FOR OBJECT DETECTING MEANS, AND TESTING METHOD例文帳に追加

物体検出手段の試験装置、及び試験方法 - 特許庁

ELECTRONIC COMPONENT TESTING APPARATUS AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

電子部品試験装置および電子部品の試験方法 - 特許庁

EQUIPMENT TESTING SYSTEM, EQUIPMENT EVALUATING APPARATUS AND EQUIPMENT TESTING METHOD例文帳に追加

機器試験システム、機器評価装置及び機器試験方法 - 特許庁

ELECTRONIC COMPONENT TESTING APPARATUS AND ELECTRONIC COMPONENT TESTING METHOD例文帳に追加

電子部品試験装置および電子部品試験方法 - 特許庁

例文

DROP IMPACT TESTING MACHINE, AND TESTING METHOD FOR DROP IMPACT TEST例文帳に追加

落下衝撃試験機および落下衝撃試験方法 - 特許庁

例文

HEARING TESTING/MEASURING APPARATUS AND HEARING TESTING/MEASURING METHOD例文帳に追加

聴力検査・測定装置、聴力検査・測定方法 - 特許庁

MAGNETIC DISK DEVICE, AND TESTING METHOD AND TESTING PROGRAM THEREOF例文帳に追加

磁気ディスク装置、その試験方法および試験プログラム - 特許庁

TESTING APPARATUS AND TESTING METHOD FOR VEHICULAR ELECTRONIC MODULE例文帳に追加

車両用電子モジュールの検査装置及び検査方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND METHOD FOR TESTING DC CHARACTERISTIC THEREOF例文帳に追加

半導体試験装置とそのDC特性試験方法 - 特許庁

TELEPHONE DEVICE TESTING SYSTEM AND TESTING METHOD FOR TELEPHONE DEVICE例文帳に追加

電話装置試験システムおよび電話装置の試験方法 - 特許庁

COMMUNICATION PROGRAM TESTING METHOD AND COMMUNICATION PROGRAM TESTING SYSTEM例文帳に追加

通信プログラム試験方法及び通信プログラム試験システム - 特許庁

TESTING DEVICE FOR TOUCH PANEL AND TESTING METHOD FOR TOUCH PANEL例文帳に追加

タッチパネルの検査装置およびタッチパネルの検査方法 - 特許庁

RELAXATION TEST METHOD, TESTING DEVICE AND TESTING TOOL例文帳に追加

リラクゼーション試験方法及び試験装置、並びに試験治具 - 特許庁

COMBINED CYCLE TESTING APPARATUS AND COMBINED CYCLE TESTING METHOD例文帳に追加

複合サイクル試験装置及び複合サイクル試験方法 - 特許庁

TESTING APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR ELEMENTS AND TESTING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

半導体素子の試験装置およびその試験方法 - 特許庁

ELECTRIC WIRE FLEXIBILITY TESTING DEVICE, AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

電線の耐屈曲性試験装置およびその試験方法 - 特許庁

TESTING SYSTEM, CONTROL METHOD THEREFOR, AND TESTING DEVICE例文帳に追加

試験システムおよびその制御方法並びに試験装置 - 特許庁

TESTING METHOD AND STORAGE MEDIUM STORING TESTING PROGRAM例文帳に追加

テスト方法、および、テスト用プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

BREAKER TESTING APPARATUS, PROGRAM AND BREAKER TESTING METHOD例文帳に追加

遮断器試験装置、プログラムおよび遮断器試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE AND TESTING METHOD FOR ELECTRIC EQUIPMENT PROTECTION CIRCUIT例文帳に追加

電気設備保護回路の試験装置及び試験方法 - 特許庁

OPTICAL PULSE TESTING APPARATUS AND METHOD FOR TESTING OPTICAL TRANSMISSION LINE例文帳に追加

光パルス試験装置および光伝送路試験方法 - 特許庁

GROUND PROPERTY TESTING METHOD AND GROUND PROPERTY TESTING DEVICE例文帳に追加

地盤特性試験方法及び地盤特性試験装置 - 特許庁

SCRATCH RESISTANCE TESTING EQUIPMENT AND SCRATCH RESISTANCE TESTING METHOD例文帳に追加

耐擦傷性試験装置および耐擦傷性試験方法 - 特許庁

IMAGE SENSOR, TESTING SYSTEM AND TESTING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加

イメージセンサ及びそのためのテストシステム並びにテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS, AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置と半導体装置の試験方法 - 特許庁

TEMPERATURE CYCLE TESTING APPARATUS AND TEMPERATURE CYCLE TESTING METHOD例文帳に追加

温度サイクル試験装置および温度サイクル試験方法 - 特許庁

DRIVE CONTROL METHOD OF TIRE TESTING MACHINE AND TIRE TESTING MACHINE例文帳に追加

タイヤ試験機の駆動制御方法及びタイヤ試験機 - 特許庁

COMPRESSION TESTING METHOD, COMPRESSION TESTING MACHINE, AND PROGRAM例文帳に追加

圧縮試験方法及び圧縮試験機、並びにプログラム - 特許庁

TESTING APPARATUS AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加

半導体記憶装置の試験装置及び試験方法 - 特許庁

CONTROL APPARATUS, ITS TESTING APPARATUS AND TESTING METHOD例文帳に追加

制御装置並びにその試験装置及び試験方法 - 特許庁

CODEC SOFTWARE TESTING DEVICE AND CODEC SOFTWARE TESTING METHOD例文帳に追加

コーデックソフトウェア試験装置及びコーデックソフトウェア試験方法 - 特許庁

TESTING CIRCUIT AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験回路及び試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験装置及び試験方法 - 特許庁

CONCRETE SHEARING TESTING METHOD AND SHEARING TESTING TOOL例文帳に追加

コンクリートのせん断試験方法及びせん断試験用治具 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING METHOD AND SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体デバイス試験方法・半導体デバイス試験装置 - 特許庁

THERMOSTATIC TYPE WEATHERABILITY TESTING METHOD AND WEATHERABILITY TESTING MACHINE例文帳に追加

恒温形耐候光試験方法および耐候光試験機 - 特許庁

TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト方法及びテスト回路 - 特許庁

TESTING DEVICE FOR D/A CONVERTER AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

D/Aコンバータの試験装置およびその試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, SEMICONDUCTOR TESTING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加

半導体試験装置、半導体試験方法及びプログラム - 特許庁

TESTING SYSTEM OF PRESSURE RISE SUPPLY DEVICE AND TESTING METHOD例文帳に追加

昇圧供給装置の試験システム及び試験方法 - 特許庁

TESTING CIRCUIT OF ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTER AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

A/D変換器の試験回路及びその試験方法 - 特許庁

TESTING DEVICE AND METHOD FOR SELF-ADVANCING TESTING MACHINE例文帳に追加

自走式試験機の試験装置及びその試験方法 - 特許庁

DISCHARGE CHARACTERISTIC TESTING APPARATUS AND DISCHARGE CHARACTERISTIC TESTING METHOD例文帳に追加

放電特性テスト装置および放電特性テスト方法 - 特許庁

LIFT-OFF TESTING METHOD OF ANCHOR AND TAPPING METHOD OF ANCHOR PLATE BEFORE THIS TESTING METHOD例文帳に追加

アンカーのリフトオフ試験方法、及びそれに先立つアンカープレートのタップ方法 - 特許庁

例文

TESTING METHOD FOR VIBRATION FOR STRUCTURE例文帳に追加

構造物の振動試験方法 - 特許庁




  
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