| 意味 | 例文 |
testing methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 5388件
TESTING DEVICE OF OIL PERMEATION PROPERTY AND TESTING METHOD OF OIL PERMEATION PROPERTY例文帳に追加
通油性試験装置および通油性試験方法 - 特許庁
STRENGTH TESTING MACHINE OF NET MATERIAL AND STRENGTH TESTING METHOD USING IT例文帳に追加
網体の強度試験装置及び強度試験方法 - 特許庁
DEVICE TO BE TESTED, TESTING SYSTEM, TESTING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
試験対象装置、試験システム、テスト方法及びプログラム - 特許庁
CAPACITOR TESTING APPARATUS AND METHOD OF TESTING CAPACITOR USING THE SAME例文帳に追加
コンデンサの検査装置及びこれを用いた検査方法 - 特許庁
ELECTRONIC COMPONENT TESTING APPARATUS AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
電子部品試験装置および電子部品の試験方法 - 特許庁
EQUIPMENT TESTING SYSTEM, EQUIPMENT EVALUATING APPARATUS AND EQUIPMENT TESTING METHOD例文帳に追加
機器試験システム、機器評価装置及び機器試験方法 - 特許庁
ELECTRONIC COMPONENT TESTING APPARATUS AND ELECTRONIC COMPONENT TESTING METHOD例文帳に追加
電子部品試験装置および電子部品試験方法 - 特許庁
DROP IMPACT TESTING MACHINE, AND TESTING METHOD FOR DROP IMPACT TEST例文帳に追加
落下衝撃試験機および落下衝撃試験方法 - 特許庁
HEARING TESTING/MEASURING APPARATUS AND HEARING TESTING/MEASURING METHOD例文帳に追加
聴力検査・測定装置、聴力検査・測定方法 - 特許庁
MAGNETIC DISK DEVICE, AND TESTING METHOD AND TESTING PROGRAM THEREOF例文帳に追加
磁気ディスク装置、その試験方法および試験プログラム - 特許庁
TESTING APPARATUS AND TESTING METHOD FOR VEHICULAR ELECTRONIC MODULE例文帳に追加
車両用電子モジュールの検査装置及び検査方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND METHOD FOR TESTING DC CHARACTERISTIC THEREOF例文帳に追加
半導体試験装置とそのDC特性試験方法 - 特許庁
TELEPHONE DEVICE TESTING SYSTEM AND TESTING METHOD FOR TELEPHONE DEVICE例文帳に追加
電話装置試験システムおよび電話装置の試験方法 - 特許庁
COMMUNICATION PROGRAM TESTING METHOD AND COMMUNICATION PROGRAM TESTING SYSTEM例文帳に追加
通信プログラム試験方法及び通信プログラム試験システム - 特許庁
TESTING DEVICE FOR TOUCH PANEL AND TESTING METHOD FOR TOUCH PANEL例文帳に追加
タッチパネルの検査装置およびタッチパネルの検査方法 - 特許庁
RELAXATION TEST METHOD, TESTING DEVICE AND TESTING TOOL例文帳に追加
リラクゼーション試験方法及び試験装置、並びに試験治具 - 特許庁
COMBINED CYCLE TESTING APPARATUS AND COMBINED CYCLE TESTING METHOD例文帳に追加
複合サイクル試験装置及び複合サイクル試験方法 - 特許庁
TESTING APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR ELEMENTS AND TESTING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加
半導体素子の試験装置およびその試験方法 - 特許庁
ELECTRIC WIRE FLEXIBILITY TESTING DEVICE, AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
電線の耐屈曲性試験装置およびその試験方法 - 特許庁
TESTING METHOD AND STORAGE MEDIUM STORING TESTING PROGRAM例文帳に追加
テスト方法、および、テスト用プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁
TESTING DEVICE AND TESTING METHOD FOR ELECTRIC EQUIPMENT PROTECTION CIRCUIT例文帳に追加
電気設備保護回路の試験装置及び試験方法 - 特許庁
OPTICAL PULSE TESTING APPARATUS AND METHOD FOR TESTING OPTICAL TRANSMISSION LINE例文帳に追加
光パルス試験装置および光伝送路試験方法 - 特許庁
SCRATCH RESISTANCE TESTING EQUIPMENT AND SCRATCH RESISTANCE TESTING METHOD例文帳に追加
耐擦傷性試験装置および耐擦傷性試験方法 - 特許庁
IMAGE SENSOR, TESTING SYSTEM AND TESTING METHOD FOR THE SAME例文帳に追加
イメージセンサ及びそのためのテストシステム並びにテスト方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS, AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体試験装置と半導体装置の試験方法 - 特許庁
TEMPERATURE CYCLE TESTING APPARATUS AND TEMPERATURE CYCLE TESTING METHOD例文帳に追加
温度サイクル試験装置および温度サイクル試験方法 - 特許庁
DRIVE CONTROL METHOD OF TIRE TESTING MACHINE AND TIRE TESTING MACHINE例文帳に追加
タイヤ試験機の駆動制御方法及びタイヤ試験機 - 特許庁
COMPRESSION TESTING METHOD, COMPRESSION TESTING MACHINE, AND PROGRAM例文帳に追加
圧縮試験方法及び圧縮試験機、並びにプログラム - 特許庁
TESTING APPARATUS AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE例文帳に追加
半導体記憶装置の試験装置及び試験方法 - 特許庁
CODEC SOFTWARE TESTING DEVICE AND CODEC SOFTWARE TESTING METHOD例文帳に追加
コーデックソフトウェア試験装置及びコーデックソフトウェア試験方法 - 特許庁
TESTING CIRCUIT AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路の試験回路及び試験方法 - 特許庁
TESTING DEVICE AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路の試験装置及び試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING METHOD AND SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING DEVICE例文帳に追加
半導体デバイス試験方法・半導体デバイス試験装置 - 特許庁
THERMOSTATIC TYPE WEATHERABILITY TESTING METHOD AND WEATHERABILITY TESTING MACHINE例文帳に追加
恒温形耐候光試験方法および耐候光試験機 - 特許庁
TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TESTING CIRCUIT例文帳に追加
半導体集積回路のテスト方法及びテスト回路 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR D/A CONVERTER AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
D/Aコンバータの試験装置およびその試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, SEMICONDUCTOR TESTING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
半導体試験装置、半導体試験方法及びプログラム - 特許庁
TESTING CIRCUIT OF ANALOG-TO-DIGITAL CONVERTER AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
A/D変換器の試験回路及びその試験方法 - 特許庁
DISCHARGE CHARACTERISTIC TESTING APPARATUS AND DISCHARGE CHARACTERISTIC TESTING METHOD例文帳に追加
放電特性テスト装置および放電特性テスト方法 - 特許庁
LIFT-OFF TESTING METHOD OF ANCHOR AND TAPPING METHOD OF ANCHOR PLATE BEFORE THIS TESTING METHOD例文帳に追加
アンカーのリフトオフ試験方法、及びそれに先立つアンカープレートのタップ方法 - 特許庁
| 意味 | 例文 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|