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testing methodの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 5388件
TESTING METHOD, TESTING DEVICE AND TESTING SYSTEM OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体デバイスの検査方法及び検査装置並びに検査システム - 特許庁
TESTING EQUIPMENT AND TESTING METHOD FOR SIGNAL PROCESSOR例文帳に追加
信号処理装置のテスト装置及びテスト方法 - 特許庁
LIGHT-RESISTANCE TESTING EQUIPMENT AND LIGHT-RESISTANCE TESTING METHOD例文帳に追加
耐光性試験装置及び耐光性試験方法 - 特許庁
TESTING DEVICE, MOBILE TERMINAL DEVICE, AND TESTING METHOD例文帳に追加
試験装置、移動端末装置及び試験方法 - 特許庁
BACTERIOLOGICAL TESTING APPARATUS AND BACTERIOLOGICAL TESTING METHOD例文帳に追加
微生物検査装置および微生物検査方法 - 特許庁
TEMPERATURE TESTING DEVICE, TEMPERATURE TESTING METHOD, AND PROGRAM例文帳に追加
温度試験装置、温度試験方法及びプログラム - 特許庁
MAGNETIC DISK DEVICE TESTING METHOD AND TESTING DEVICE例文帳に追加
磁気ディスク装置の試験方法および試験装置 - 特許庁
To provide an interposer testing structure and an interposer testing method.例文帳に追加
インターポーザ試験構造と方法を提供する。 - 特許庁
STATIC ELECTRICITY TESTING DEVICE AND STATIC ELECTRICITY TESTING METHOD例文帳に追加
静電気試験装置及び静電気試験方法 - 特許庁
AUTOMATIC PENETRATION TESTING MACHINE AND PENETRATION TESTING METHOD例文帳に追加
自動貫入試験機及び貫入試験方法 - 特許庁
CONNECTOR, CONNECTOR TESTING APPARATUS AND CONNECTOR TESTING METHOD例文帳に追加
コネクタ、コネクタ検査装置およびコネクタ検査方法 - 特許庁
DYNAMIC BALANCE TESTING MACHINE AND DYNAMIC BALANCE TESTING METHOD例文帳に追加
動釣合試験機および動釣合試験方法 - 特許庁
TESTING DEVICE AND TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の試験装置および試験方法 - 特許庁
MULTI PROCESS TESTING METHOD AND MULTI PROCESS TESTING DEVICE例文帳に追加
多工程試験方法及び多工程試験装置 - 特許庁
TESTING DEVICE, TESTING METHOD, AND ELECTRIC CURRENT MEASURING INSTRUMENT例文帳に追加
試験装置、試験方法、及び電流測定器 - 特許庁
RELIABILITY TESTING METHOD OF CAPACITOR AND TESTING UNIT例文帳に追加
コンデンサの信頼性試験方法及びその装置 - 特許庁
TESTING METHOD AND TESTING DEVICE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体デバイスの試験方法及び試験装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND SEMICONDUCTOR TESTING METHOD例文帳に追加
半導体テスト装置および半導体テスト方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND SEMICONDUCTOR TESTING METHOD例文帳に追加
半導体試験装置及び半導体試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND SEMICONDUCTOR TESTING METHOD例文帳に追加
半導体検査装置及び半導体検査方法 - 特許庁
TESTING DEVICE AND TESTING METHOD FOR DIFFERENTIAL DATA DRIVER例文帳に追加
差動型データドライバのテスト装置及びテスト方法 - 特許庁
RELIABILITY TESTING METHOD AND RELIABILITY TESTING DEVICE例文帳に追加
信頼性試験方法及び信頼性試験装置 - 特許庁
PROGRAM TESTING APPARATUS, PROGRAM TESTING METHOD FOR PROGRAM TESTING APPARATUS, AND PROGRAM TESTING PROGRAM例文帳に追加
プログラム試験装置、プログラム試験装置のプログラム試験方法およびプログラム試験プログラム - 特許庁
TESTING SYSTEM, TESTING METHOD, AND METHOD OF MANUFACTURING ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加
検査システム,検査方法,及び電子装置の製造方法 - 特許庁
METHOD OF TESTING CHARACTERISTIC OF DEVICE例文帳に追加
デバイスの特性試験方法 - 特許庁
HEMOLYTIC ANEMIA TESTING METHOD例文帳に追加
溶血性貧血検査方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
集積回路の試験方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR CHIP例文帳に追加
半導体チップのテスト方法 - 特許庁
METHOD OF TESTING SUBSCRIBER LINE例文帳に追加
加入者線路試験方法 - 特許庁
SURFACE-CHARACTERISTICS TESTING METHOD例文帳に追加
表面特性の試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR ELEMENT TESTING METHOD例文帳に追加
半導体素子の試験方法 - 特許庁
MATERIAL TESTING METHOD FOR STEEL PLATE例文帳に追加
鋼鈑の材質試験方法 - 特許庁
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