testingを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 14414件
IMPACT COMPRESSION TESTING DEVICE FOR CERAMICS例文帳に追加
セラミックス用衝撃圧縮試験装置 - 特許庁
MULTI-LAYERED FILTRATION DEVICE CAPABLE OF TESTING MAINTAINABILITY例文帳に追加
保全性試験可能多層濾過装置 - 特許庁
COMPOSITION KIT FOR TESTING INADAPTATION OF DENTURE例文帳に追加
義歯不適合検査用の組成物キット - 特許庁
TESTING DEVICE FOR ULTRASONIC ENDOSCOPE例文帳に追加
超音波内視鏡装置の検査装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR TESTING IT例文帳に追加
半導体装置及びそのテスト方法 - 特許庁
TRANSMISSION AND RECEPTION TESTING METHOD FOR COMMUNICATION EQUIPMENT例文帳に追加
通信装置の送受信試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WITH TESTING FUNCTION例文帳に追加
テスト機能付き半導体集積回路 - 特許庁
DATA PROCESSOR AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
データ処理装置及びその試験方法 - 特許庁
TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF IC例文帳に追加
ICの試験装置及び試験方法 - 特許庁
PIPING FOR HEAT MEDIUM AND TESTING APPARATUS例文帳に追加
熱媒体用配管及び試験装置 - 特許庁
COOLING APPARATUS FOR SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING DEVICE例文帳に追加
半導体試験装置の冷却装置 - 特許庁
TESTING TOOL AND ITS MANUFACTURING METHOD例文帳に追加
試験用具、およびそれの製造方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR例文帳に追加
半導体試験装置及び試験方法 - 特許庁
ELECTRIC TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
半導体装置の電気的検査方法 - 特許庁
SAMPLE COLLECTION APPARATUS AND TESTING APPARATUS例文帳に追加
サンプル収集装置および試験装置 - 特許庁
BURN-IN BOARD AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加
バーンインボード、及び、半導体試験装置 - 特許庁
WIRELESS ELECTRIC WIRING CIRCUIT TESTING DEVICE例文帳に追加
無線式電気配線回路試験装置 - 特許庁
COMBINATION TEST METHOD AND TESTING DEVICE例文帳に追加
組合せ試験方法及び試験装置 - 特許庁
TESTING METHOD FOR PLANT MONITOR CONTROL SYSTEM例文帳に追加
プラント監視制御システムの試験方法 - 特許庁
DEVICE INTERFACE APPARATUS AND TESTING DEVICE例文帳に追加
デバイスインターフェイス装置および試験装置 - 特許庁
PERFORMANCE TESTING SYSTEM FOR CLIENT/SERVER SYSTEM例文帳に追加
クライアントサーバシステムの性能試験方式 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING OPTICAL CABLE例文帳に追加
光ケーブルの試験方法および装置 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加
集積回路試験方法及び装置 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING LIGHT FASTNESS例文帳に追加
耐光性試験方法及び試験装置 - 特許庁
NONDESTRUCTIVE TESTING METHOD FOR PROJECTION WELDING例文帳に追加
プロジェクション溶接の非破壊検査方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR FILTRATION TESTING例文帳に追加
濾過試験装置、及び、濾過試験方法 - 特許庁
AUTOMATIC TEST METHOD AND AUTOMATIC TESTING MACHINE例文帳に追加
自動試験方法及び自動試験機 - 特許庁
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