「testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(60ページ目) - Weblio英語例文検索

DETERIORATION TESTING DEVICE AND DETERIORATION TEST METHOD例文帳に追加

劣化試験装置及び劣化試験方法 - 特許庁

DIGITAL LOG AMPLIFIER FOR ULTRASONIC TESTING例文帳に追加

超音波検査用デジタル対数増幅器 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND MEASURING DEVICE例文帳に追加

半導体試験装置および測定装置 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE AND ITS METHOD例文帳に追加

集積回路の試験装置及び方法 - 特許庁

DURABILITY EVALUATION TESTING MACHINE FOR V-RIBBED BELT例文帳に追加

Ｖリブドベルトの耐久性評価試験機 - 特許庁

TESTING DEVICE AND TESTING METHOD, INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME例文帳に追加

検査装置及び検査方法、集積回路素子の製造方法、集積回路素子 - 特許庁

TESTING METHOD OF DISPLAY DEVICE, TESTING INSTRUMENT OF DISPLAY DEVICE, DISPLAY DEVICE, AND ELECTRONIC APPARATUS例文帳に追加

表示装置の検査方法、表示装置の検査装置、表示装置及び電子機器 - 特許庁

METHOD FOR TESTING NON-VOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY例文帳に追加

不揮発性半導体メモリの検査方法 - 特許庁

LSI TEST CIRCUIT AND TESTING METHOD THEREOF例文帳に追加

ＬＳＩテスト回路およびそのテスト方法 - 特許庁

To obtain a corrosion resistance testing method for metallic material, capable of shortening the corrosion testing time of the metal material and capable of realizing simplification and compactification of corrosion resistance testing equipment, and to provide corrosion resistance testing equipment.例文帳に追加

金属の耐食試験時間を短縮でき、且つ、装置の簡易化及びコンパクト化を実現することができる金属材料の耐食性試験方法及び装置を得る。 - 特許庁

CIRCUIT TESTER AND CIRCUIT TESTING METHOD例文帳に追加

回路試験装置および回路試験方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND TEST METHOD例文帳に追加

半導体試験装置および試験方法 - 特許庁

APPARATUS FOR TESTING DURABILITY OF AUTOMOBILE SWITCH例文帳に追加

自動車のスイッチ耐久性試験装置 - 特許庁

Japanese Space Shuttle Prototypes Ready for Testing 例文帳に追加

日本版スペースシャトルの実験機，実験へ - 浜島書店 Catch a Wave

DNA testing on the remains has already started. 例文帳に追加

遺骨のDNA検査はすでに始まっている。 - 浜島書店 Catch a Wave

DRIVE DEVICE, SWITCH DEVICE AND TESTING APPARATUS例文帳に追加

駆動装置、スイッチ装置、および試験装置 - 特許庁

INDUCTION NOISE BENCH TESTING DEVICE BETWEEN TWO CIRCUITS例文帳に追加

２回路間の誘導ノイズベンチ試験装置 - 特許庁

TRAVEL TESTING APPARATUS OF AUTOMATIC GUIDED VEHICLE例文帳に追加

自動搬送台車の走行試験装置 - 特許庁

REFRACTORY TESTING METHOD AND REFRACTORY TESTER例文帳に追加

耐火物の試験方法およびその装置 - 特許庁

HUMIDITY CONTROL MECHANISM OF ENVIRONMENT TESTING DEVICE例文帳に追加

環境試験装置の湿度制御機構 - 特許庁

TESTING METHOD OF BOARD, TESTING DEVICE OF BOARD, AND MANUFACTURING METHOD OF ELECTRO-OPTICAL DEVICE例文帳に追加

基板の検査方法、基板の検査装置および電気光学装置の製造方法 - 特許庁

The recording head 5 records a testing signal.例文帳に追加

記録ヘッド５は、試験信号を記録する。 - 特許庁

DROP TESTING METHOD AND DROP TESTER例文帳に追加

落下試験方法及び落下試験装置 - 特許庁

INTEGRATED CIRCUIT TESTING SYSTEM, AND HEATER STRUCTURE例文帳に追加

集積回路テストシステムおよびヒータ構造 - 特許庁

MEMORY MODULE AND DEVICE FOR TESTING MEMORY例文帳に追加

メモリモジュ−ル及びメモリを試験する装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING IC DEVICE ELECTRICALLY例文帳に追加

ＩＣデバイスを電気的にテストする方法 - 特許庁

TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT CHIP例文帳に追加

半導体集積回路チップ試験方法 - 特許庁

MATERIAL TESTING MACHINE AND CALIBRATION METHOD例文帳に追加

材料試験機およびキャリブレーション方法 - 特許庁

TIRE TESTING MACHINE AND DRUM DEVICE THEREFOR例文帳に追加

タイヤ試験機とこれに用いるドラム装置 - 特許庁

METHOD FOR TESTING QUALITY OF SOLID INSULATION CABLE例文帳に追加

固体絶縁ケーブルの品質試験方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING WAFER AND SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

ウェハおよび半導体装置のテスト方法 - 特許庁

DYNAMIC CONE PENETRATION TESTING AND SAMPLING MACHINE例文帳に追加

動的コーン貫入試験機兼サンプリング機 - 特許庁

TESTING METHOD, TESTING CIRCUIT, ELECTROOPTIC DEVICE-USE SUBSTRATE, AND ELECTROOPTIC DEVICE例文帳に追加

検査方法、検査回路及び電気光学装置用基板、並びに電気光学装置 - 特許庁

BLOOD BAG FOR TESTING AND BLOOD SAMPLING INSTRUMENT例文帳に追加

検査用血液バッグおよび採血器具 - 特許庁

MANIPULATOR FOR TEST HEAD OF AUTOMATIC TESTING DEVICE例文帳に追加

自動テスト装置のテストヘッド用マニピュレータ - 特許庁

TESTING APPARATUS FOR TEMPERATURE CHARACTERISTIC OF LD MODULE例文帳に追加

ＬＤモジュールの温度特性試験装置 - 特許庁

ELECTRONIC PART TESTING TRAY CONVEYANCE DEVICE, TESTING DEVICE AND TEST METHOD OF ELECTRONIC PART例文帳に追加

電子部品試験用トレイ搬送装置、電子部品の試験装置および試験方法 - 特許庁

TRANSFER DEVICE FOR TIRE, AND TIRE TESTING MACHINE例文帳に追加

タイヤ用移載装置及びタイヤ試験機 - 特許庁

ROLLING/SLIDING FATIGUE LIFE TESTING METHOD AND TESTING DEVICE FOR STEEL MATERIALS例文帳に追加

鋼製材料の転がりすべり疲労寿命試験方法およびその試験装置 - 特許庁

FEELING CHARACTERIC TESTING DEVICE FOR ROTARY SWITCH例文帳に追加

ロータリースイッチのフィーリング特性試験装置 - 特許庁

TESTING APPARATUS FOR ARTIFICIAL FEMUR HEAD例文帳に追加

人工大腿骨頭のための試験装置 - 特許庁

SELECTION DEVICE, DELAY DEVICE AND TESTING APPARATUS例文帳に追加

選択デバイス、遅延デバイス及び試験装置 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR TESTING IC例文帳に追加

ＩＣ試験装置、及びＩＣ試験方法 - 特許庁

To reduce a circuit scale of a testing device.例文帳に追加

試験装置の回路規模を低減する。 - 特許庁

SHAFT CENTERING DEVICE FOR MATERIAL TESTING MACHINE例文帳に追加

材料試験機の軸心調整装置 - 特許庁