「testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(86ページ目) - Weblio英語例文検索

TESTING SUBSTRATE OF MAGNETIC DISK UNIT, AND TEST CHAMBER例文帳に追加

磁気ディスク装置の試験用基板及びテスト・チャンバ - 特許庁

DEVICE POWER SUPPLYING UNIT AND IC TESTING DEVICE例文帳に追加

デバイス電源供給装置およびＩＣ試験装置 - 特許庁

IMAGE ALIGNER AND TESTING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加

画像位置合装置及びそれを用いた検査装置 - 特許庁

VIRTUAL USB DEVICE AND METHOD FOR TESTING PERSONAL COMPUTER例文帳に追加

仮想ＵＳＢデバイスとパーソナルコンピュータのテスト方法 - 特許庁

METHOD OF TESTING ACTIVE MATRIX SUBSTRATE AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加

アクティブマトリクス基板の検査方法およびその装置 - 特許庁

ATTACHING AND DETACHING METAL FITTINGS OF LEADING END OF WATER PRESSURE TESTING PUMP HOSE例文帳に追加

水圧テストポンプホース先端部の脱着金具 - 特許庁

not yet proved or subjected to testing 例文帳に追加

まだ証明されない、あるいは試験を受けていない - 日本語WordNet

METHOD AND DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路の試験方法および装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND TESTING DEVICE THEREOF例文帳に追加

半導体集積回路装置及びその試験装置 - 特許庁

HUMIDIFICATION APPARATUS AND ENVIRONMENT TESTING DEVICE INCLUDING THE SAME例文帳に追加

加湿装置及びこれを含む環境試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR-TESTING DEVICE AND ITS CALIBRATION METHOD例文帳に追加

半導体試験装置およびそのキャリブレーション方法 - 特許庁

NON-VOLATILE SEMICONDUCTOR MEMORY HAVING TESTING FUNCTION例文帳に追加

テスト機能を有する不揮発性半導体メモリ装置 - 特許庁

CALIBRATION CIRCUIT, CALIBRATION AND TESTING DEVICE例文帳に追加

キャリブレーション回路、キャリブレーション方法、及び試験装置 - 特許庁

SCINTILLATOR AND RADIATION TESTING APPARATUS USING THE SAME例文帳に追加

シンチレータおよびそれを用いた放射線検査装置 - 特許庁

TESTING DEVICE AND METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT例文帳に追加

半導体集積回路のテスト装置および方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加

半導体デバイス及び半導体デバイスの試験方法 - 特許庁

To provide an earthquake resistance testing facility capable of suppressing occurrence of seismic ground motion caused by vibration applied during testing.例文帳に追加

試験時の加振に起因する地震動の発生を抑制できる耐震試験設備を提供すること。 - 特許庁

SOFTWARE TESTING WORK SUPPORTING METHOD AND DEVICE FOR THE SAME AND RECORDING MEDIUM WITH SOFTWARE TESTING WORK SUPPORTING PROGRAM RECORDED例文帳に追加

ソフトウェア試験作業支援方法、装置、ソフトウェア試験作業支援プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁

AUTOMATIC PENETRATION TESTING MACHINE HAVING HAMMERING MEASUREMENT FUNCTION例文帳に追加

打撃測定機能を有する自動貫入試験機 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加

半導体装置及び半導体装置のテスト方法 - 特許庁

METHOD FOR TESTING CONTACT FAILURE OF SEMICONDUCTOR DEVICE AND SEMICONDUCTOR DEVICE TO WHICH THE SAME TESTING METHOD IS APPLIED例文帳に追加

半導体装置のコンタクト不良検査方法及びその検査方法が適用される半導体装置 - 特許庁

SOCKET FOR LSI TESTING FOR PROXIMITY IC CARD AND TESTING METHOD OF LSI FOR PROXIMITY IC CARD例文帳に追加

非接触ＩＣカード用ＬＳＩ試験用ソケット及び非接触ＩＣカード用ＬＳＩの試験方法 - 特許庁

OUTPUT CIRCUIT FOR CONTROLLING GRAY-SCALE, ITS TESTING DEVICE, AND METHOD FOR TESTING THE CIRCUIT例文帳に追加

階調制御用出力回路及びその検査用装置，階調制御用出力回路の検査方法 - 特許庁

ADDRESS CONVERSION CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR MEMORY TESTING DEVICE例文帳に追加

アドレス変換回路および半導体メモリ試験装置 - 特許庁

To provide a testing device and testing method for finding abnormalities of the needle of a probe.例文帳に追加

探針の針先の異常を発見することが可能な試験装置及び試験方法を提供すること。 - 特許庁

PROBE TESTING METHOD, SEMICONDUCTOR WAFER, AND PROBE CARD例文帳に追加

プローブ試験方法と半導体ウェハ及びプローブカード - 特許庁

FLUSHING OCCURRENCE TESTING DEVICE OF POWDER AND GRAIN AND PREDICTION METHOD OF FLUSHING OCCURRENCE USING THE TESTING DEVICE例文帳に追加

粉粒体のフラッシング発生試験装置、およびその試験装置を用いたフラッシング発生の予測方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TEST METHOD AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE例文帳に追加

半導体試験方法および半導体試験装置 - 特許庁

IMPACT TESTING APPARATUS WITH DOUBLE HAMMERING PREVENTION MECHANISM AND DOUBLE HAMMERING PREVENTION METHOD FOR IMPACT TESTING APPARATUS例文帳に追加

二度打ち防止機構を備えた衝撃試験装置および衝撃試験装置の二度打ち防止方法 - 特許庁

TRIAXIAL TESTING MACHINE AND PROGRAM THEREFOR例文帳に追加

三軸試験装置および三軸試験装置用プログラム - 特許庁

SEMICONDUCTOR MEMORY AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR例文帳に追加

半導体記憶装置および半導体試験方法 - 特許庁

FLOW SIMULATING CIRCUIT FOR TESTING OF FLOWMETER例文帳に追加

流量計の試験用の流れシミュレーション用回路 - 特許庁

CHIP FOR DETECTING POLYNUCLEOTIDE AND APPARATUS FOR TESTING POLYNUCLEOTIDE例文帳に追加

ポリヌクレオチド検出チップ及びポリヌクレオチド検査装置 - 特許庁

WAFER PROBER DEVICE AND METHOD FOR TESTING SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加

ウエハプローバ装置及び半導体ウエハのテスト方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS AC SPECIFICATION TESTING METHOD例文帳に追加

半導体装置及びそのＡＣスペック検査方法 - 特許庁

SOCKET FOR SEMICONDUCTOR TEST, AND SEMICONDUCTOR TESTING EQUIPMENT例文帳に追加

半導体テスト用ソケットおよび半導体テスト装置 - 特許庁

VARIABLE DELAY CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR CIRCUIT TESTING DEVICE例文帳に追加

可変遅延回路及び半導体回路試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS HAVING TIMING CALIBRATION FUNCTION例文帳に追加

タイミング校正機能を具備した半導体試験装置 - 特許庁

SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND SEMICONDUCTOR- TESTING APPARATUS例文帳に追加

半導体集積回路及び半導体試験装置 - 特許庁

BLOOD SENSOR UNIT, BLOOD TESTING APPARATUS USING IT AND MEASUREMENT METHOD USING THE BLOOD TESTING APPARATUS例文帳に追加

血液センサユニットとこれを用いた血液検査装置及びこの血液検査装置を用いた測定方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR CIRCUIT TESTING TOOL AND MANUFACTURING METHOD THEREOF例文帳に追加

半導体回路検査治具及びその製造方法 - 特許庁

SEMICONDUCTOR MANUFACTURING APPARATUS AND SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS例文帳に追加

半導体製造装置、および半導体検査装置 - 特許庁

ELECTROMAGNETIC FORCE TYPE MINUTE MATERIAL TESTING MACHINE WITH MICROSCOPE例文帳に追加

顕微鏡付電磁力式微小材料試験機 - 特許庁

LUBRICATING OIL SEDIMENTATION TESTING DEVICE OF PISTON UNDER CROWN例文帳に追加

潤滑油のピストンアンダークラウン堆積性試験装置 - 特許庁

TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, TESTING SYSTEM, DATA STRUCTURE FOR SPECIFYING PHYSICAL MAP OF MEMORY BLOCK例文帳に追加

半導体集積回路装置の試験方法、試験システム、メモリブロックの物理マップ特定用データ構造 - 特許庁