testingを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 14414件
USB CONTROLLER AND METHOD OF TESTING USB CONTROLLER例文帳に追加
USBコントローラ及びUSBコントローラ試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TESTING METHOD FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND TESTING PROGRAM FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT,例文帳に追加
半導体集積回路、半導体集積回路の検査方法、半導体集積回路の検査プログラム - 特許庁
PROBE CARD FOR USE IN TESTING CHIP ON SEMICONDUCTOR WAFER, AND METHOD FOR TESTING CHIP ON SEMICONDUCTOR WAFER例文帳に追加
半導体ウエハ上のチップの検査に用いるプローブカードおよび半導体ウエハ上のチップの検査方法 - 特許庁
The closing apparatus 1 for testing piping withstand pressure comprises a pair of tools for testing piping withstand pressure 2a, 2b.例文帳に追加
配管耐圧試験用閉止装置1は、1対の配管耐圧試験用治具2a、2bを含む。 - 特許庁
How will we go about testing the hypothesis例文帳に追加
仮説を検証するにはどうすればいいでしょう - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
Each supernova testing which theories of dark energy例文帳に追加
各超新星は どのダークエネルギーの理論と整合し - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
That they would begin to offer testing for the brca genes.例文帳に追加
brca遺伝子検査を 開始すると発表しました - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
Partly, this is because of dna and genetic testing例文帳に追加
一つにはこれはdnaと 遺伝子検査によるものです - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
Partly, this is because of dna and genetic testing例文帳に追加
一つにはこれはDNAと 遺伝子検査によるものです - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
a small gauge used for testing an electric circuit 例文帳に追加
電気回路に関する試験を行う小型の計器 - EDR日英対訳辞書
a method of inference that employs the use and testing of hypothesis 例文帳に追加
仮説を検証しながら行う推論方式 - EDR日英対訳辞書
METHOD AND APPARATUS FOR TESTING CHARACTERISTIC OF MAGNETIC HEAD例文帳に追加
磁気ヘッドの特性試験方法および試験装置 - 特許庁
DATA DAMAGE TESTING METHOD FOR HIERARCHICAL STORAGE SYSTEM例文帳に追加
階層的記憶システム用のデータ破損試験方法 - 特許庁
To provide a liquid crystal display built in with a testing circuit, and a liquid crystal display testing method.例文帳に追加
試験回路を組み込んだ液晶表示装置及び液晶表示装置試験方法を提供する。 - 特許庁
ADAPTER AND ELECTRONIC COMPONENT TESTING DEVICE PROVIDED WITH THE SAME例文帳に追加
アダプタ及びそれを備えた電子部品試験装置 - 特許庁
METHOD AND EQUIPMENT FOR TESTING MAGNETIC RECORDING MEDIUM例文帳に追加
磁気記録媒体の検査装置および検査方法 - 特許庁
Do these products go through animal-testing?例文帳に追加
これらの製品は動物試験を行っていますか。 - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文
INSTALLATION DEVICE FOR TESTING SURFACE-MOUNTING DEVICE PACKAGE例文帳に追加
表面実装デバイスパッケージのテスト用取付け装置 - 特許庁
THIN-FILM TRANSISTOR ARRAY SUBSTRATE AND METHOD OF TESTING THE SAME例文帳に追加
薄膜トランジスタアレイ基板及びその検査方法 - 特許庁
BURN-IN TESTING DEVICE AND METHOD, AND STORAGE MEDIUM例文帳に追加
バーンイン試験装置、試験方法及び記憶媒体 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING FLASH MEMORY例文帳に追加
フラッシュメモリのテスト装置及びフラッシュメモリのテスト方法 - 特許庁
METHOD FOR TESTING SOLID-STATE IMAGE SENSOR AND APPARATUS THEREFOR例文帳に追加
固体撮像素子の検査方法及びその装置 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR TESTING HARDNESS METER例文帳に追加
硬度計の検査装置及び硬度計の検査方法 - 特許庁
This impact testing device is provided with a testing table 5 mounted with the testing object 3, and an impact applying means 1 for applying an impact on the whole face of a testing objective face 3a of the testing object 3, using a bag (object) 17 having any property out of elasticity, viscosity and viscoelasticity.例文帳に追加
試験対象物3が載置される試験台5と、試験対象物3の試験対象面3aの全面に、弾性、粘性、粘弾性のうちのいずれかの性質を有する袋(物体)17を用いて衝撃を与える衝撃付与手段1とを備える。 - 特許庁
SPIRAL HEAT EXCHANGER AND ENGINE PERFORMANCE TESTING DEVICE例文帳に追加
スパイラル式熱交換器、及び、エンジン性能試験装置 - 特許庁
ACTIVE MATRIX DISPLAY AND ITS TESTING METHOD例文帳に追加
アクティブマトリクス型の表示装置およびその検査方法 - 特許庁
TESTING MACHINE FOR MECHANICAL CHARACTERISTICS OF TRANSMISSION LINE WITH OPTICAL COMPONENT例文帳に追加
光部品付伝送線の機械的特性試験機 - 特許庁
POWER SUPPLY AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE USING THE SAME例文帳に追加
電源装置とこれを用いた半導体試験装置 - 特許庁
ADJUSTMENT TESTING METHOD FOR DIGITAL COMMUNICATION EQUIPMENT AND DEVICE THEREFOR例文帳に追加
デジタル通信機器の調整試験方法及び装置 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF TESTING THE SAME例文帳に追加
半導体装置及び半導体装置の試験方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE SAME例文帳に追加
半導体装置および半導体装置の試験方法 - 特許庁
A testing lead through-hole 16 for inserting a testing lead from the outside thereinto, passing the testing lead through the through-hole of the iron core 11 and then drawing out the testing lead therefrom to the outside is formed in the current-transformer portion of the current transformer 10.例文帳に追加
ブッシング変流器10の変流器部には、試験用リードを外部から挿入して鉄心11の貫通孔を通したのちに外部に引き出すための試験用リード貫通孔16が形成されている。 - 特許庁
CIRCULAR ROAD SURFACE SYSTEM AND CIRCULAR ROAD SURFACE TESTING SYSTEM例文帳に追加
周回路面装置及び周回路面試験装置 - 特許庁
CIRCUIT CONSTITUTION AND METHOD FOR TESTING MICROPROCESSOR例文帳に追加
マイクロプロセサをテストするための回路構成とテスト方法 - 特許庁
TESTING DEVICE FOR CAPACITOR IN INTEGRATED CIRCUIT AND METHOD THEREOF例文帳に追加
集積回路のコンデンサの試験装置および方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR TESTING ELECTRONIC DEVICE例文帳に追加
電子機器用試験装置および電子機器試験方法 - 特許庁
| Copyright (c) 株式会社 高電社 All rights reserved. |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
| Copyright © National Institute of Information and Communications Technology. All Rights Reserved. |
JESC: Japanese-English Subtitle Corpus映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書のコンテンツは、特に明示されている場合を除いて、次のライセンスに従います: Creative Commons Attribution-ShareAlike 4.0 International (CC BY-SA 4.0) |
| この対訳コーパスは独立行政法人情報通信研究機構の研究成果であり、Creative Commons Attribution-Share Alike 3.0 Unportedでライセンスされています。 |
| Copyright © 2001 - 2008 by the PEAR Documentation Group. This material may be distributed only subject to the terms and conditions set forth in the Open Publication License, v1.0 or later (the latest version is presently available at http://www.opencontent.org/openpub/ ). |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|


Creative Commons Attribution-ShareAlike 4.0 International (CC BY-SA 4.0)