| 意味 | 例文 (8件) |
vaccを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 8件
The surface potential Vs is determined by expression: (Vacc-Vsub).例文帳に追加
表面電位Ｖｓを（Ｖａｃｃ−Ｖｓｕｂ）から求める。 - 特許庁
A plurality of potentials to be applied to the back of the sample S are set, and the Vth distribution when some position on the sample S surface is put on a boundary between reflection and absorption of the electron beam is defined by expression: (Vacc-Vsub) from an acceleration voltage Vacc and an application voltage Vsub to the back.例文帳に追加
試料Ｓ裏面に加える電位を複数設定し、試料Ｓの表面のある位置が電子ビームが反射するか吸収される境界となった場合のＶｔｈ分布を加速電圧Vaccと、裏面の印加電圧Vsubから、Vacc-Vsub により定義する。 - 特許庁
An accelerator requested air quantity Vacc is calculated based on the opening degree of the accelerator (S7).例文帳に追加
アクセル開度に基づいてアクセル要求空気量Ｖａｃｃを算出する（Ｓ７）。 - 特許庁
A voltage divider circuit 28 divides the voltage of accessory power supply Vacc supplied from an on-vehicle battery 3 through a fuse 5b and outputs it to an input port PI of the microcomputer 25.例文帳に追加
分圧回路28は車載バッテリ3からヒューズ5bを介して供給されるアクセサリ電源Vaccの電圧を分圧して、マイクロコンピュータ25の入力ポートPIへ出力する。 - 特許庁
The surface potential Vs of the photoreceptor sample S is measured by discriminating a boundary (|Vacc|=|Vs|) between a secondary electron image and an inverted electron image.例文帳に追加
２次電子像と反転電子像の境界（｜Ｖａｃｃ｜＝｜Ｖｓ｜）を識別することにより感光体試料Ｓの表面電位Ｖｓを計測する。 - 特許庁
An acceleration voltage Vacc of incident electrons is fixed, and an application voltage Vsub to the under surface of the sample S is changed.例文帳に追加
入射電子の加速電圧Ｖａｃｃを固定して試料Ｓの下面の印加電圧Ｖｓｕｂを変えていく。 - 特許庁
The accelerator requested air quantity Vacc is added to the target idling air quantity Qmv, and a target air quantity Vcyl is calculated (S8).例文帳に追加
アクセル要求空気量Ｖａｃｃと目標アイドル空気量Ｑｍｖとを加算して、目標空気量Ｖｃｙｌを算出する（Ｓ８）。 - 特許庁
The method comprises irradiating the surface of a sample 71 with an electron beam, while modifying acceleration voltage Vacc of the electron beam, emitted from an electron gun 10 and detecting primary repulsive electrons made to repulse in the neighborhood of the surface of the sample with a detector before reaching the surface of the sample.例文帳に追加
電子銃１０から放出される電子ビームの加速電圧Ｖaccを変更しながら、電子ビームを試料７１の表面に照射し、試料表面に到達する前に試料表面近傍で反発された一次反発電子を検出器で検出する。 - 特許庁
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