PATTERNING METHOD AND FILM FORMING APPARATUS パターニング方法及び製膜装置 - 特許庁
DOUBLE PATTERNING METHOD BY LITHOGRAPHY リソグラフィによるダブルパターンニング方法 - 特許庁
OVERLAY MEASUREMENT ON DOUBLE PATTERNING SUBSTRATE ダブルパターニング基板のオーバレイ測定 - 特許庁
EXPOSURE MASK AND PATTERNING METHOD 露光用マスク及びパターニング方法 - 特許庁
METHOD OF PATTERNING CONDUCTIVE FILM 導電性フィルムのパターニング方法 - 特許庁
LITHOGRAPHY METHOD AND PATTERNING DEVICE リソグラフィ方法およびパターニングデバイス - 特許庁
PATTERNING METHOD AND ALIGNER パターン形成方法及び露光装置 - 特許庁
PATTERNING SUBSTRATE AND ITS MANUFACTURING METHOD パターニング基板とその製造方法 - 特許庁
The product patterning device is separated from the measuring-target patterning device. 製品パターン化デバイスと計測ターゲット・パターン化デバイスは分離されている。 - 特許庁
PATTERNING METHOD AND PATTERNING DEVICE, AND METHOD OF MANUFACTURING DEVICE パターン形成方法及びパターン形成装置、並びにデバイス製造方法 - 特許庁
Finally, the patterning step of wiring is performed. この後、配線パターニングを行なう。 - 特許庁
PATTERNING METHOD AND ALIGNER パターン形成方法および露光装置 - 特許庁
SYSTEM FOR PATTERNING LAPPING SURFACE ラップ仕上面をパターン付けするシステム - 特許庁
METHOD OF PATTERNING NANO CONDUCTIVE FILM ナノ導電性膜のパターニング方法 - 特許庁
the action of glossing or patterning by polishing
研いで光沢や模様を出すこと - EDR日英対訳辞書
Thus, the position of the patterning support is controlled to compensate for slip of the patterning device relative to the patterning support. 従って、パターン支持体の位置の制御により、パターン支持体に対するパターニングデバイスのスリップが補正される。 - 特許庁
The patterning device includes at least two image patterning portions and at least two methodology mark patterning portions. パターニングデバイスは少なくとも2つのイメージパターニング部分および少なくとも2つのメトロロジーマークパターニング部分を含む。 - 特許庁
MASK STRUCTURAL BODY AND PATTERNING METHOD マスク構造体及びパターニング方法 - 特許庁
MANUFACTURING METHOD OF PATTERNING MOLDING AND PATTERNING MOLDING OBTAINED THEREBY 模様付成形品の製法およびそれによって得られる模様付成形品 - 特許庁
METHOD FOR PATTERNING METALLIC OXIDE FILM 金属酸化物膜のパターン化方法 - 特許庁
BASE MATERIAL FOR PATTERNING FILAMENTOUS FLOATING CELL 糸状浮遊細胞パターニング基材 - 特許庁
MAGNETIC MEMORY SUBJECTED TO ASSYMETRICAL PATTERNING 非対称にパターニングされた磁気メモリ - 特許庁
METHOD FOR PATTERNING LIQUID CRYSTAL LAYER AND ORIGINAL PLATE FOR PATTERNING USED FOR THE SAME 液晶層のパターニング方法およびそれに用いられるパターニング用原版 - 特許庁
PATTERNING METHOD OF WATER-SOLUBLE PHOTORESIST 水溶性フォトレジストのパターニング方法 - 特許庁
PHOTORESIST AND METHOD FOR PATTERNING THE SAME フォトレジストおよびそのパターン化方法 - 特許庁
PATTERNING APPARATUS USING INK JET HEAD インクジェットヘッドを用いたパターニング装置 - 特許庁
To provide a patterning apparatus to be used in patterning processing having a high degree of freedom. 自由度の高いパターニング方法に用いるパターニング装置を提供する。 - 特許庁
METHOD FOR PATTERNING LAYOUT OF SEMICONDUCTOR DEVICE 半導体装置のパターンレイアウト方法 - 特許庁
PATTERNING PROCESS AND RESIST COMPOSITION パターン形成方法及びレジスト材料 - 特許庁
RESIST MATERIAL AND PATTERNING PROCESS レジスト材料及びパターン形成方法 - 特許庁
RESIST MATERIAL AND PATTERNING PROCESS レジスト材料、及びパターン形成方法 - 特許庁
PATTERNING METHOD AND PATTERNED PRODUCT 模様付与加工方法及びその製品 - 特許庁
The patterning for the second time is carried out under the set patterning condition. その後、その設定されたパターニングの条件により2回目のパターニングを行う。 - 特許庁
PLASMA FOR PATTERNING IMPROVED GATE STACK 改良型ゲートスタックのパターン化用プラズマ - 特許庁
LIQUID DELIVERY APPARATUS AND PATTERNING APPARATUS 液体吐出装置及びパターニング装置 - 特許庁
METHOD FOR PATTERNING AND SEMICONDUCTOR DEVICE パターニングの方法および半導体デバイス - 特許庁
PATTERNING METHOD, AND SEMICONDUCTOR DEVICE パターン形成方法及び半導体装置 - 特許庁
METHOD FOR PATTERNING SILICON COMPOUND THIN FILM ケイ素化合物薄膜のパターニング方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND PATTERNING PROCESS 半導体装置及びパターン形成方法 - 特許庁
Thereafter, the second patterning is conducted by transferring the wafer W to the patterning system. その後、ウェハWをパターニングシステムに搬送して2回目のパターニングを行う。 - 特許庁
MASK FOR PATTERNING AND ITS PRODUCTION パターニング用マスク及びその製造方法 - 特許庁
RESIST COMPOSITION AND PATTERNING METHOD レジスト組成物及びパターン形成方法 - 特許庁
PATTERNING METHOD AND EQUIPMENT パタン作製方法及びパタン作製装置 - 特許庁
PATTERNING PROCESS AND COMPOSITION FOR FORMING SILICON-CONTAINING FILM TO BE USED FOR PATTERNING PROCESS パターン形成方法及びこれに用いるケイ素含有膜形成用組成物 - 特許庁
RESIST COMPOSITION AND PATTERNING PROCESS レジスト組成物及びパターン形成方法 - 特許庁