コンプトン電子の英語

第１の基礎物質による減衰は光電子減衰プロセスに対応し、第２の基礎物質による減衰はコンプトン減衰プロセスに対応する。例文帳に追加

Attenuation by the first basis material corresponds to a photoelectric attenuation process, and attenuation by the second basis material corresponds to a Compton attenuation process. - 特許庁

電子ビームとパルスレーザ光とを衝突させて逆コンプトン散乱によりＸ線を発生させる高輝度Ｘ線発生装置。例文帳に追加

This high-luminance X-ray generation device generates an X-ray by inverse Compton scattering by making an electron beam collide with a pulse laser beam. - 特許庁

各基礎物質の画像を適切に組み合わせて、単色画像、密度及び実効原子番号画像、又は光電子及びコンプトンプロセス画像を提供することができる。例文帳に追加

The images of each basis material can then be properly combined to give monochromatic images, density and effective atomic number images, or photoelectronic and Compton processes images. - 特許庁

レーザＬａと電子ｅ^-とが正面衝突してレーザ逆コンプトン散乱によるＸ線Ｌｘが発生すると、Ｘ線Ｌｘは加速器２の窓部２ｃから非対称光学素子２０に入射する。例文帳に追加

When the laser La collides with the electron e^- to generate an X-ray Lx by laser reverse Compton scattering, the X-ray Ls is made incident on the optical element 20 through the window part 2c of the accelerator 2. - 特許庁

電子ビームと自由電子レーザーとの逆コンプトン散乱の衝突点を増大させて高収量のＸ線を発生させ、準単色性を有するＸ線の発生することができるＸ線発生装置及び方法を実現する。例文帳に追加

To provide an X-ray generator capable of generating X rays at a high yield by increasing inverse Compton scattering collision points of an electron beam and a free electron laser and of generating X rays having a quasi-monochromaticity, and to provide a method therefor. - 特許庁

金属部材１０及び１１内では前記放射線との相互作用（コンプトン効果など）に基づく２次電子が発生するとともに、その一部が金属部材１０及び１１外へ放出し、金属部材１０及び１１内に電子欠損に起因した起電力が生じるようになる。例文帳に追加

In the metallic members 10 and 11, secondary electrons are generated based on an interaction (Compton effect, etc.) with the radiation while they are partly discharged out of the metallic members 10 and 11, and electromotive force is produced in the metallic members 10 and 11 due to electron deficiency. - 特許庁

光電効果事象をコンプトン散乱事象から有効に識別し、光電効果により発生した荷電粒子による発光（チェレンコフ光）のみを検出することで、位置精度良く癌細胞などの異常組織の位置を発見することができ、しかもデータ収集及び解析機構を簡素化することができる陽電子放出断層撮像装置を提供する。例文帳に追加

To provide a positron emission tomograph for finding the position of anomalous tissue such as cancer cells with satisfactory positional accuracy by effectively discriminating a photoelectric effect phenomenon from a Compton scatter phenomenon to detect only light emission (Cherenkov light) caused by charged particles generated by a photoelectric effect, and moreover simplifying data collection and an analysis mechanism. - 特許庁