テスト時間の英語

DRAM等のテスト時のアドレス数を減らしてテスト時間を短縮する。例文帳に追加

To reduce a time for a test by reducing the number of addresses in the case of testing a DRAM etc. - 特許庁

出力遅延時間測定用テスト方法およびそのテスト回路例文帳に追加

TESTING METHOD AND TESTING CIRCUIT FOR MEASURING OUTPUT DELAY TIME - 特許庁

それゆえに、テスト装置のアイドル時間または無駄時間が短縮され、テスト効率が高められる。例文帳に追加

Therefore, an idle time or a dead time of a test device is shortened and test efficiency is improved. - 特許庁

スキャンテスト回路において、スキャンテストに要する時間を縮小しテストコストを削減する。例文帳に追加

To reduce a test cost by curtailing time required for a scan test with respect to a scan test circuit. - 特許庁

テスト時間を短縮することが可能なROMテスト回路及びそのテスト方法を提供する。例文帳に追加

To provide a ROM test circuit in which a test time can be shortened, and a ROM test method. - 特許庁

メモリテストの時間を短縮するメモリテスト回路およびメモリテスト方法を提供する。例文帳に追加

To provide a circuit and a method for memory testing capable of shortening a memory testing time. - 特許庁

テスト時間を短縮するための信号処理装置のテスト装置及びテスト方法を提供する。例文帳に追加

To provide test equipment and a testing method for a signal processor for shortening of the amount of testing time. - 特許庁

半導体デバイスのテスト方法において、テストレートをテスト環境に拘わらずテスト時間を短縮化するための最適なテストレートを得る。例文帳に追加

To obtain an optimum rate in a test rate for shortening a test time independently of a test environment in a test method for a semiconductor device. - 特許庁