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英訳・英語 Mann test


JST科学技術用語日英対訳辞書での「マン試験」の英訳

マン試験


「マン試験」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 147



例文

マンホール用荷重試験装置例文帳に追加

LOAD TESTING DEVICE FOR MANHOLE - 特許庁

マンコンベアの負荷試験装置例文帳に追加

LOAD TEST DEVICE OF PASSENGER CONVEYOR - 特許庁

マンコンベアの負荷試験装置例文帳に追加

LOAD TEST DEVICE FOR MAN CONVEYOR - 特許庁

オンデマンドにより材料試験を行う方法および材料試験例文帳に追加

METHOD AND MACHINE FOR TESTING MATERIAL BY ON-DEMAND SYSTEM - 特許庁

試験デバイスを試験する試験装置であって、被試験デバイスを試験する複数の試験ユニットと、複数の試験ユニットのそれぞれに対してコマンドを送信して、複数の試験ユニットのそれぞれの動作を制御する制御装置と、制御装置から複数の試験ユニットのそれぞれに対して送信されたコマンドを順次受信して記憶するトレースメモリとを備える試験装置を提供する。例文帳に追加

The testing device that tests devices to be tested comprises a plurality of testing units that test the devices to be tested; a controller that sends commands to the plurality of testing units, respectively and controls the operations of the plurality of testing units, respectively; and a trace memory that receives in sequence the commands sent from the controller to the plurality of testing units, respectively to store the commands. - 特許庁

半導体試験システムは、被試験デバイスに試験信号を供給し、被試験デバイスの試験を行う半導体試験装置と、半導体試験装置と被試験デバイスとを電気的に接続するパフォーマンスボードと、被試験デバイスを搬送し、パフォーマンスボードに被試験デバイスを電気的に接続させる搬送装置とを備える。例文帳に追加

This semiconductor testing system is provided with a semiconductor test equipment for feeding test signal to the device under test and testing the device under test, the performance board for electrically connecting the semiconductor test equipment with the device under test, and a carrier device for conveying the device under test to electrically connect it with the performance board. - 特許庁

例文

マンコンベアの寿命試験等における負荷試験用として簡単に用いることができるマンコンベアの負荷試験装置を得る。例文帳に追加

To provide a load test device of a passenger conveyor usable simply for a load test in a service life test of the passenger conveyor. - 特許庁

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「マン試験」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 147



例文

半導体試験装置及びパフォーマンスボード例文帳に追加

SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND PERFORMANCE BOARD - 特許庁

試験装置及び診断用パフォーマンスボード例文帳に追加

TESTING DEVICE AND PERFORMANCE BOARD FOR DIAGNOSTIC USE - 特許庁

パフォーマンスボード及び試験システム例文帳に追加

PERFORMANCE BOARD AND TEST SYSTEM - 特許庁

パフォーマンスボード、試験装置、試験方法、診断用ボード及び診断方法例文帳に追加

PERFORMANCE BOARD, TEST APPARATUS AND METHOD, DIAGNOSTIC BOARD, AND DIAGNOSTIC METHOD - 特許庁

この自己試験回路は、外部からの試験活性化信号WBIZに応答して活性化し、試験動作コマンドWBI-CMDを発生し、試験アドレスWBI-ADDを発生し、試験データWBI-DATAを発生する。例文帳に追加

This self-test circuit responds to an external test activating signal WBIZ and activated, generates a test operation command WBI-CMD, generates a test address WBI-ADD, and generates a test data WBI-DATA. - 特許庁

駅務機器に関する試験装置であって、記憶手段に記憶された試験仕様書に基づいて試験マンドに関する試験マンドデータが生成されると、試験マンドデータを解釈して、試験マンドを駅務機器側に送信し、送信した試験マンドに対応するレスポンスを駅務機器側より受信する送受信手段を有することによって課題を解決する。例文帳に追加

A test device regarding station service equipment has a transmitting/receiving means which interprets test command data regarding a test command, transmits the test command to the station service equipment side, and receives a response corresponding to the transmitted test command from the station service equipment side when the test command data is generated based on test specifications stored in a storage means. - 特許庁

従来の光線路試験システムにおいては、設備管理センタ5から指示された光線路試験の種別に応じて、システム内の各試験装置の動作順序と試験指示をコマンドで直接記述している。例文帳に追加

To provide a optical line testing system and a optical line testing method which can easily perform system modification by reducing modifying steps and confirming steps of software, when devices are added, and testing procedures are changed. - 特許庁

例文

複数個の被試験LSIを同時に試験する際に、パフォーマンス・ボードの回路構成を複雑化させることなく、被試験LSIごとに最適化されたアナログ試験信号を簡単な回路構成で生成する技術の提供。例文帳に追加

To provide a technique of a simple circuit constitution for generating analogue test signals optimized for each LSI to be tested without complicating the circuit constitution of a performance board when a plurality of the LSI to be tested are simultaneously tested. - 特許庁

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