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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > 専門用語対訳辞書 > レチクルホルダの英語・英訳 

レチクルホルダの英語

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Weblio専門用語対訳辞書での「レチクルホルダ」の英訳

レチクルホルダ

Weblio専門用語対訳辞書はプログラムで機械的に意味や英語表現を生成しているため、不適切な項目が含まれていることもあります。ご了承くださいませ。

「レチクルホルダ」を含む例文一覧

該当件数 : 12



例文

レチクルホルダ及び露光方法例文帳に追加

RETICLE HOLDER AND EXPOSURE METHOD - 特許庁

レチクルホルダおよびレチクルのアセンブリ例文帳に追加

ASSEMBLY OF RETICLE HOLDER AND RETICLE - 特許庁

レチクルホルダの上面(レチクル載置面)を容易に清掃する。例文帳に追加

To easily clean the upper surface (reticle placing surface) of a reticle holder. - 特許庁

垂直方向移動機構6は、レチクルホルダー7を垂直方向に移動させることができる。例文帳に追加

A reticle holder 7 can be moved in the vertical direction by the vertically moving structure 6. - 特許庁

(a)に示すように、レチクルステージ1には、レチクルホルダ3を保持するための台座2が搭載されている。例文帳に追加

As shown in (a), a base 2 for holding a reticle holder 3 thereon is mounted on a reticle stage 1. - 特許庁

パルスレーザー光源9から出射されたパルスレーザー光10は、レンズ11で集光され、レチクルホルダー7に設置されたレチクル8の表面に照射される。例文帳に追加

The laser beam 10 emitted from a pulse laser beam source 9 is condensed by a lens 11, and the laser beam is made to irradiate on the surface of the reticle 8 provided on the reticle holder 7. - 特許庁

例文

このように、レチクルホルダ3がレチクル6をチャッキングしたままレチクルステージ1から分離可能とされているので、露光状態と同様のチャッキング状態、姿勢で、レチクルの歪を測定することができる。例文帳に追加

In this way, since the reticle holder 3 can be separated from the reticle stage 1 with the reticle 6 chucked, the strain of the reticle can be measured in a chucked state or attitude similar to in an exposure state. - 特許庁

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「レチクルホルダ」を含む例文一覧

該当件数 : 12



例文

したがって、露光用の照明光ILを清掃用レチクルRCに照射するだけで、レチクルホルダ上面に異物、汚染物質などが付着していてもそれらの物質は、分解され、除去される。例文帳に追加

In this way, only by irradiating the cleaning reticle RC with the illumination light IL for exposure, substances such as foreign matters or contamination substances adhering on the upper surfaces of the reticle holders can be decomposed and eliminated. - 特許庁

マーク基板ホルダ101が、レチクルホルダ103と同様の構造により、静電チャックによりマーク基板の裏面全体を吸着するので、マーク基板の自重たわみの影響は十分に低減することが可能である。例文帳に追加

A mark substrate holder 101 absorbs the whole rear surface of the mark substrate by an electrostatic chuck, with the structure same as that of a reticle holder 103 to fully reduce an influence of a deflection by own weight of the mark substrate. - 特許庁

(b)に示すように、レチクルホルダ3には、露光転写すべきパターンが形成されたパターン領域7を持つレチクル6を吸着するための、チャック部4が搭載されている。例文帳に追加

As shown in (b), a chuck 4 for sucking a reticle 6 having a pattern region 7 having a pattern to be exposed and transferred formed thereon is mounted on the reticle holder 3. - 特許庁

清掃用レチクルRCに設けられたグレーティング53A,53B及び反射面54A,54Bにより、レチクルホルダ34A,34Bの上面(レチクル載置面)に照明光ILが導かれ、その上面が光洗浄される。例文帳に追加

Illumination light IL is guided to upper surfaces (reticle placing surfaces) of reticle holders 34A, 34B by gratings 53A, 53B provided on a cleaning reticle RC and reflection surfaces 54A, 54B, and the upper surfaces are optically cleaned. - 特許庁

例文

そのパターン面にフレーム76を介してペリクル75が装着されたレチクルRがレチクルホルダ14により保持された状態で、そのレチクルRのパターン面とフレーム76とペリクル75とで囲まれた保護空間PS内に所定のガス、例えば窒素又は希ガス等の低吸収性ガスを給気管66を介して供給するガス供給系を備えている。例文帳に追加

An aligner is provided with a gas-supplying system, which supplies a prescribed low-absorptivity gas, such as the nitrogen, rare gas, etc., to a protective space PS, surrounded by the patterned surface of a reticle R carrying a pellicle 75 fitted to the patterned surface via a frame 76 and the pellicle 75 while the reticle R is held by a reticle holder 14. - 特許庁

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