中性子線散乱の英語

中性子線源１５より発せられた照射中性子は反射材１８により散乱減速させられ、その一部が中性子測定素子１７側に反射する。例文帳に追加

Irradiating neutrons emitted from the neutron radiation source 15 are scattered and decelerated by the reflector 18, and a part thereof is reflected to the neutron measuring element 17 side. - 特許庁

整流板６Ａ，６Ｂ及び放射線散乱体７Ａ，７Ｂは、中性子遮蔽材１２をガンマー線遮蔽材１３で被うことによって構成され、中性子及びガンマー線を遮蔽する。例文帳に追加

The current plates 6A and 6B and the radiation scatterers 7A and 7B are constituted by covering a neutron shield with a γ-ray shield to shield neutrons and γ rays. - 特許庁

散乱因子を変化させることは、X線回折と中性子回折の両方を行うことなどの異なる種類の放射線を使うことにより、或いは同じ組成であるが異なる同位体をもつ材料について中性子回折を行うことにより、果たされる。例文帳に追加

Varying the scattering factors is accomplished by using different types of radiation, such as performing both X-ray and neutron diffraction, or by performing neutron diffraction on materials with the same composition but different isotopes.発音を聞く  - 科学技術論文動詞集

Ｘ線反射率法および中性子反射率法において、均一ではない、面内の場所ごとに異なる構造を持つ薄膜・多層膜について、表面や界面、特定深さ位置における２次元の電子密度分布および核散乱長密度分布を画像化する方法及びその装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method and apparatus for imaging a two-dimensional electron density distribution and a nucleus scattering length density distribution on a surface, an interface and a specific depth position of a thin film and a multilayered film having nonuniform and different structure for every place in plane, by an X-ray reflectometry and neutron reflectometry. - 特許庁

本発明では、微小ビームを作製してＸＹスキャンを行う方法によらず、通常のＸ線反射率法および中性子反射率法において用いられるものと同じサイズのビームを用い、数学的な画像再構成のアルゴリズムによって、表面や界面、特定深さ位置における２次元の電子密度分布および核散乱長密度分布の画像が得られる装置を開発した。例文帳に追加

According to the present invention, the apparatus provides images of the two-dimensional electron density distribution and the nucleus scattering length density distribution on the surface, the interface and the specific depth position not using a method for making minute beams and performing an XY scan, but using beams having same size as those used in the regular X-ray reflectometry and the neutron reflectometry by algorithm of mathematical image reconstruction. - 特許庁