導通テストの英語

スイッチ用トランジスタ、セレクタ、ヒューズ、プローブまたはコネクタを設けることで、テスト用スタブ配線をテスト時には導通させ、通常動作時には非導通とすることで信号線の信号品質を確保する。例文帳に追加

The provision of a switching transistor, a selector, a fuse, or a connector brings the test stub wiring into conduction during testing, and out of conduction during normal operation, thus maintaining signal quality of the signal wiring. - 特許庁

本発明の光伝送システムは、送信側に、入力データ信号の導通を確認する導通確認回路１０６と、テスト信号を発生させるテスト信号発生器１０５と、切替え器１０７とを有している。例文帳に追加

This optical transmission system has a continuity confirming circuit 106 which confirms the conduction of an input data signal, a test signal generator 105 which generates a test signal, and a switch 107 on its transmission side. - 特許庁

本発明の光伝送システムは、送信側に、入力データ信号の導通を確認する導通確認回路１０６と、テスト信号を発生させるテスト信号発生器１０５と、切替え器１０７とを有している。例文帳に追加

The optical transmission system of this invention is provided with a continuity confirmation circuit 106 for confirming continuity of an input data signal, a test signal generator 105 for generating a test signal, and a changeover device 107 at a transmission side. - 特許庁

導通検査用表示器３３を配置し、テストモードのときは、導通検査用表示器３３にテストのために入賞口に入れた球の入賞球数を表示（例えば、１、２・・・）することで、係員は該当の入賞センサが導通していることを確認する。例文帳に追加

A continuity inspection display unit 33 is arranged and a person in charge confirms that the prize winning sensor is connected by displaying the number of prize winning balls (1, 2, etc.), which enter prize winning ports in the unit 33 for testing in a test mode. - 特許庁

線状導体が露出しているテストポイントを被覆保護して短絡などのトラブルを防止でき、導通確認テストの際にはテストポイントの被覆を簡単に解除してテストを実施できるフレキシブルフラットケーブルを提供する。例文帳に追加

To provide a flexible flat cable capable of preventing troubles such as short-circuit by coating and protecting a test point where a linear conductor is exposed, and able to be tested by easily removing the coating of the test point when performing a continuity confirmation test. - 特許庁

導通試験の効率を向上させることができるとともによりきめ細かなテストを行うための半導体装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device in which efficiency of a conduction test can be improved and by which a more detailed test can be performed. - 特許庁

ＬＳＩの通常の試験と電源端子及びＧＮＤ端子の導通試験を同一のテストボードで可能にする。例文帳に追加

To enable normal tests of LSIs and continuity tests of power source terminals and GND terminals by the same test board. - 特許庁

また、または異なる回路パターンを持ったテストパターンを形成してショート、導通不良、異物によるショートなどの欠陥を検出する。例文帳に追加

Alternatively, defects such as short circuits, continuity defects, short circuits caused by foreign matters, etc., are detected by forming test patterns having different circuit patterns. - 特許庁