差動測定法の英語

差動式ＳＰＲセンサー及び該センサーを用いた測定法例文帳に追加

DIFFERENTIAL SPR SENSOR AND MEASURING METHOD USING THE SAME - 特許庁

６自由度位置・姿勢測定装置による機械の運動誤差補正方法例文帳に追加

MOTIONAL ERROR CORRECTING METHOD OF MACHINE BY 6-DEGREE-OF-FREEDOM POSITION-ATTITUDE MEASURING DEVICE - 特許庁

表面形状測定用触針式段差計及びその自動較正方法例文帳に追加

PROBE TYPE STEP PROFILER FOR SURFACE SHAPE MEASUREMENT AND AUTOMATIC CALIBRATION METHOD - 特許庁

波面測定方法および装置において、被測定面および参照面の相対移動の位置決め精度による測定誤差を低減して、波面測定の測定精度を向上することができるようにする。例文帳に追加

To improve measurement accuracy of a wavefront by reducing measurement errors, due to the positioning precision of the relative movement of a surface to be measured and the reference surface, in a wavefront measurement method and a wavefront measuring device. - 特許庁

対象物を光学的に検査するための測定器およびこの測定器の作動方法において、拡がりのある構造の精密測定を、特に線構造の測定を、測定誤差を少なくして可能にさせる。例文帳に追加

To finely measure expanded structure, in particular, line structure, with a reduced measuring error, in a measuring instrument for inspecting an object optically and an operation method for the measuring instrument. - 特許庁

被測定対象が流動する流体であっても、誤差の少ない測定を可能とする流体中の粒子密度測定装置及びその測定方法並びに流体中の粒子質量濃度測定装置及びその測定方法を提供する。例文帳に追加

To provide an instrument and a method for measuring the density of particle in a fluid enabling measurements which are reduced in errors, even with respect to a fluid wherein a measuring target flows, and to provide an instrument and method for measuring the mass concentration of the particles in the fluid. - 特許庁

遊星差動ネジ型回転−直動変換機構の軸方向バックラッシを高精度に測定することが可能な軸方向バックラッシ測定用補助装置、軸方向バックラッシ測定装置及び軸方向バックラッシ測定方法。例文帳に追加

To provide an auxiliary device for axial backlash measurement, an axial backlash measuring device and an axial backlash measuring method, capable of highly accurately measuring axial backlash of a planetary differential screw type rotation-linear motion conversion mechanism. - 特許庁

厚み計の相対位置を測定する手段を備えたオンラインでのフィルムの厚み測定方法であって、厚み計相対位置の変動による測定誤差を調整することを特徴とするフィルムの厚み測定方法。例文帳に追加

This online film thickness measuring method equipped with a means for measuring the relative position of the thickness meter is characterized by adjusting the measurement error caused by fluctuation of the relative position of the thickness meter. - 特許庁