縮退半導体の英語

ウェハ毎で容易に露光パターンのライン縮退改善の程度、あるいはライン縮退量を定量的に把握することのできるフォトマスク及びその評価方法及び半導体ウェハを提供する。例文帳に追加

To provide a photomask in which the degree of improvement of the line degeneracy of a pattern for exposure or the amount of the line degeneracy can be graphed for every wafer and to provide a method for evaluating the photomask and a semiconductor wafer. - 特許庁

この発明に係る半導体記憶装置は、縮退テストモードを有し、指定信号に応じて設定されたデータ端子を介して、さらに、指定信号に応じて設定されたデータ線の組み合わせで、縮退テストを行う縮退テスト回路を設けている。例文帳に追加

A semiconductor memory related to this semiconductor integrated circuit has a degeneration test mode and it is provided with a degeneration test circuit performing the degeneration test via a data terminal set in accordance with a designation signal and by a combination of data lines set in accordance with the designation signal. - 特許庁

得られたドーピング結晶は、優れたキャリア濃度を有するｐ型半導体の性質と、電気抵抗率が温度低下と共に減少する縮退半導体的挙動を示す性質を備える。例文帳に追加

Obtained doping crystal has p-type semiconductor characteristics having good carrier concentration, and a characteristic exhibiting the degenerate semiconductor behavior that an electrical resistivity decreases with a temperature drop. - 特許庁

メモリセルにデータを伝送する信号線間のノイズ干渉をＩ／Ｏ縮退テストモードで調べることができる半導体記憶装置及び半導体記憶装置のテスト方法を得る。例文帳に追加

To obtain a semiconductor memory in which noise interference between signal lines transmitting data to a memory cell can be examined by an I/O degeneration test mode and a test method for a semiconductor memory. - 特許庁

半導体内部のキャリア（電子）の様子をモンテカルロシミュレーションで計算する場合、効率よくバンドの縮退を分離して群速度を求める。例文帳に追加

To determine the group velocity by efficiently isolating band degeneracy in a process of calculating the status of carriers (electrons) inside a semiconductor by using the Monte Carlo simulation. - 特許庁

このことにより、縮退故障以外の半導体集積回路装置の故障についても故障診断できると共に、その診断結果の確率を算出することができる。例文帳に追加

Hereby, the failure diagnosis can be performed even on a failure of the semiconductor integrated circuit device except the degenerate failure, and the probability of the diagnosis result can be calculated. - 特許庁

スキャン設計された半導体集積回路のスキャンチェーンテストにおいて、単一縮退故障に対して、簡易な回路構成で故障箇所を特定することができるようにする。例文帳に追加

To enable a failure portion to be specified in a single degenerate failure event, using a simple circuit configuration in a scan chain test of a semiconductor integrated circuit that has been scan designed. - 特許庁

縮退故障以外の半導体集積回路装置の故障についても故障診断できると共に、その診断結果の確率を算出することを目的とする。例文帳に追加

To make performable failure diagnosis even on a failure of a semiconductor integrated circuit device except a degenerate failure, and to calculate the probability of a diagnosis result. - 特許庁