縮退半導体の英語

得られたドーピング結晶は、優れたキャリア濃度を有するｐ型半導体の性質と、電気抵抗率が温度低下と共に減少する縮退半導体的挙動を示す性質を備える。例文帳に追加

Obtained doping crystal has p-type semiconductor characteristics having good carrier concentration, and a characteristic exhibiting the degenerate semiconductor behavior that an electrical resistivity decreases with a temperature drop. - 特許庁

ウェハ毎で容易に露光パターンのライン縮退改善の程度、あるいはライン縮退量を定量的に把握することのできるフォトマスク及びその評価方法及び半導体ウェハを提供する。例文帳に追加

To provide a photomask in which the degree of improvement of the line degeneracy of a pattern for exposure or the amount of the line degeneracy can be graphed for every wafer and to provide a method for evaluating the photomask and a semiconductor wafer. - 特許庁

この発明に係る半導体記憶装置は、縮退テストモードを有し、指定信号に応じて設定されたデータ端子を介して、さらに、指定信号に応じて設定されたデータ線の組み合わせで、縮退テストを行う縮退テスト回路を設けている。例文帳に追加

A semiconductor memory related to this semiconductor integrated circuit has a degeneration test mode and it is provided with a degeneration test circuit performing the degeneration test via a data terminal set in accordance with a designation signal and by a combination of data lines set in accordance with the designation signal. - 特許庁

半導体内部のキャリア（電子）の様子をモンテカルロシミュレーションで計算する場合、効率よくバンドの縮退を分離して群速度を求める。例文帳に追加

To determine the group velocity by efficiently isolating band degeneracy in a process of calculating the status of carriers (electrons) inside a semiconductor by using the Monte Carlo simulation. - 特許庁

過去30年にわたって半導体製造業者は単一縮退故障（SSF）モデルと呼ばれる単純な故障モデルを使ってチップを試験してきた。例文帳に追加

For the past 30 years semiconductor manufacturers have tested chips using a simple fault model called the Single Stuck-At Fault (SSF) model.発音を聞く  - コンピューター用語辞典

容易に微細な露光パターンのライン縮退改善ができ、信頼性の向上するフォトマスク及びパターン作製方法及び半導体装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method for manufacturing a photomask and a pattern by which line degeneration in a fine exposure pattern can be easily improved and reliability is improved, and to provide a semiconductor device. - 特許庁

アドレスを縮退した試験の際にも、ｔＲＣＤの実力を正確に評価することが可能な、半導体記憶装置の試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a test method of a semiconductor memory device by which real ability of tRCD can be evaluated accurately even in the case of a test in which an address is shrunk. - 特許庁

可観測性が高く、簡便に遅延故障や縮退故障等を検出することができる半導体集積回路の試験装置及び試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus and a method for testing a semiconductor integrated circuit which is high in observability and capable of conveniently detecting the delay failure, the degeneration failure, etc. - 特許庁