膜構造解析の英語

混晶半導体膜の組成変調構造解析法例文帳に追加

ANALYTIC METHOD FOR COMPOSITION MODULATED STRUCTURE OF MIXED CRYSTAL SEMICONDUCTOR FILM - 特許庁

膜構造解析方法およびその装置例文帳に追加

MEMBRANE STRUCTURAL ANALYSIS METHOD AND APPARATUS OF THE SAME - 特許庁

袋構造部の内部の電着塗膜の膜厚を正確に解析する。例文帳に追加

To exactly analyze the film thickness of an electrodeposition coating film within a closed structure section. - 特許庁

種々の有機多層薄膜材料の構造を解析可能な有機多層薄膜材料の構造解析方法を提供する。例文帳に追加

To provide a structural analysis method of an organic multi-layered thin film material in which structures of various organic multi-layered thin film materials are analyzed. - 特許庁

有限要素法に基づく複合膜構造物の解析を行うにあたり、大変形時においても座屈を考慮した精度のよいシミュレーション解析を行うことのできる複合膜構造物の解析方法を提供すること。例文帳に追加

To provide an analyzing method for a composite membrane structure which is capable of simulation analysis with accuracy taking buckling into consideration even in large deformation, in analysis of the composite membrane based on a finite element method. - 特許庁

Ｘ線反射率測定で得られた測定データに対してシミュレーション演算データをフィッティングすることにより膜構造を解析する膜構造解析においてフィッティングによる解析結果が局所解に陥ることを防止し、高い精度での膜構造解析結果を得ることを可能とする膜構造解析方法とその装置。例文帳に追加

In analyzing the film structure by fitting simulation operated data to measured data obtained by measuring X-ray reflectivity, a film structure analyzing result is obtained with high precision by preventing the analyzing result by fitting from falling into a local solution. - 特許庁

単層膜または多層膜からなる膜試料の構造をＸ線反射率測定法により解析する膜構造解析方法において、同一の膜試料を分解能およびダイナミックレンジのうちの少なくともいずれかの条件が異なる測定条件により測定した複数の測定データを同時に解析することにより膜構造を決定することを特徴とする膜構造解析方法を提供する。例文帳に追加

To provide a film structure analyzing method constituted so as to analyze the structure of a film structure comprising a single-layer film or a multilayered film and analyzing a plurality of measuring data, which is obtained by measuring the same film sample under a measuring condition different in at least either one of resolving power and a dynamic range, at the same time to determinate the film structure. - 特許庁

走査型プローブ顕微鏡を用いた立体膜構造解析方法および立体膜構造解析装置、並びに走査型プローブ顕微鏡の立体膜構造測定方法例文帳に追加

THREE-DIMENSIONAL MEMBRANE STRUCTURE ANALYSIS METHOD USING SCANNING PROBE MICROSCOPE, THREE-DIMENSIONAL MEMBRANE STRUCTURE ANALYZER AND THREE-DIMENSIONAL MEMBRANE STRUCTURE MEASURING METHOD OF SCANNING PROBE MICROSCOPE - 特許庁