詳細試験項目の英語

デバイスの試験順序決定に関し、より詳細には半導体や磁気ヘッドなどのデバイスの試験が複数の試験項目からなる場合に、製造ロット毎の試験項目に対する不良率変動に起因する試験のスループット低下を防ぐための試験順序最適化に関する。例文帳に追加

To provide a test sequence determination method capable of preventing a throughput of a test from getting low caused by fluctuation of a fraction defective in test items in every production lot, as to test sequence determination for a device, saying in detail, when a test for the device such as a semiconductor and a magnetic head comprises the plurality of test items. - 特許庁

企画段階で仮想試験を行い、その結果として、仮想試験状況と信頼度として５段階に細分化された各レベル毎に該当する試験項目数が表示され、特にレベル０〜２までの信頼性の低い試験項目については詳細な項目及び識別番号などが表示される。例文帳に追加

A virtual test is performed in a planning level, and the pertinent number of test items is displayed for each level sub-divided into 5 levels as virtual test situations and reliability degrees as the test result, and detail items and identification numbers or the like are displayed especially for the test items whose reliability is low ranging from the level 0 to the level 2. - 特許庁

試験機に関する知識が乏しくとも、また、装置の操作に習熟していなくても、試験結果を表すグラフから処理項目に応じた最適な詳細表示を行うことのできる材料試験機を提供する。例文帳に追加

To provide a material testing machine allowing optimum detail display in response to a processing item from a graph displaying a test result, even without sufficient knowledge about the testing machine and without skill in an operation for a device. - 特許庁