電子線干渉計の英語

従来の電子線干渉計測法では、電子線バイプリズムの極細線電極から発生するフレネル縞が取得画像ごとに変化して干渉像に重畳されるため、新たなアーティファクトの原因となり、高精度な再生像を得るには至っていない。例文帳に追加

The present invention is for observation by an interference microscopic image by a two-step electron-beam biprism interferometer. - 特許庁

アース用の接続線が他の部品と干渉することがなく、装置の設計自由度を向上することのできる電子機器を提供する。例文帳に追加

To provide electronic equipment preventing the interference of a connecting wire for earth with other components and enhancing the designing freedom of a device. - 特許庁

ＰＬＣを使用して、各無線システムへの干渉を低減し、電波環境を良好に保ち、かつ自端末の余計な電力消費を抑えることができる電波干渉回避のための無線通信システムおよび電子機器を提供する。例文帳に追加

To provide a radio communication system for avoiding radio wave interference whereby the PLC is used to reduce interference on each radio system and to keep a radio wave environment excellently, and wasteful power consumption of its own terminal can be suppressed, and to provide electronic equipment. - 特許庁

干渉計は、干渉信号における変調角周波数ω_ｍの基本波成分と２倍高調波成分の強度比を求め、該強度比と、位相変化量に基づいて、プラズマ３０の物理量である線平均電子密度を算出する。例文帳に追加

The interferometer determines an intensity ratio between a fundamental wave component of the modulated angle frequency ω_m and a double harmonic component in an interference signal, and calculates a line average electron density which is a physical quantity of the plasma 30 based on the intensity ratio and a phase variation. - 特許庁

従来の２段電子線バイプリズム干渉計における上段と下段の電子線バイプリズムに加えて、新たに、電子線偏向器を使用することにより、もしくは上段または下段の電子線バイプリズムに電子線偏向機能を合わせ持たせた。例文帳に追加

In addition to an upper-step and lower-step electron-beam biprisms in the conventional two-step electron-beam biprism interferometer, an electron beam deflector is used anew, or an electron-beam deflection function is also given to the upper-step or the lower-step electron-beam biprisms. - 特許庁

人的操作に依存することなく自動的に最適な条件の明瞭な電子線の干渉縞を形成し、安定した条件で例えば電子線ホログラフィー法による位相計測を行う。例文帳に追加

To automatically form an interference pattern of an electron beam having an optimal clear condition without depending on a human operation, and to perform a phase measurement at a stable condition by an electron beam holography method. - 特許庁

電子的スペックル干渉法を用いて、観察物体の動的な変形、振動、歪等を高精度に計測する方法および装置において、時間領域における位相変化曲線の位相アンラッピング処理を行う際に、該位相変化曲線における位相の接続点の検出を自動化する程度まで容易なものとする。例文帳に追加

To provide a method and a device used for accurately measuring dynamic deformation, vibration, distortion or the like of an observing object by using an electronic speckle interferometry, and capable of facilitating a phase unlapping process to an extent allowing detection of a connection point of a phase change curve to be automated in executing the phase unlapping process of the phase change curve in a time domain. - 特許庁