電気的収縮時間の英語

熱収縮性ポリエチレンテレフタレートチューブを電子部品に被覆する前のチューブの脆化が少なく、収縮特性および開口性に優れ且つ電子部品に被覆後、高温下に長時間放置する際の耐熱性に優れた汎用電気絶縁材料や発熱体被覆材料等の利用価値を有する熱収縮性ポリエチレンテレフタレートチューブを提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a heat shrinkable polyethylene terephthalate tube having a utility value of a general purpose electrical insulation material, a heater- coating material or the like having small embrittlement of the tube before an electronic component is covered with the polyethylene terephthalate tube, excellent shrinkage characteristic and openability, and excellent heat resistance when the electronic component is left to stand for a long time at a high temperature after the component is covered with the tube. - 特許庁

低周波パルスによる電気的な刺激を患部に付与してから、その患部の神経Ｎに支配されている筋肉の収縮に基づく皮膚の振動量がピーク値に達するまでの応答時間に基づいて、スピーカ１０から鳴動する音の鳴動時間を決定している。例文帳に追加

After the electric stimulation of low frequency pulse is given to an affected region, a duration of sound blown out of a speaker 10 is determined according to a duration of response that lasts until skin vibration depending on the muscular contraction controlled by the nerve N of the affected region reaches a peak level. - 特許庁

良好且つ恒久的な帯電防止性を有し、静電気消散性に優れ、成形品表面での制電特性（飽和帯電圧と帯電圧半減衰時間）のバラツキが非常に小さい樹脂組成物およびそれからなり収縮異方性が小さいエレクトロニクス分野の搬送用冶具を提供する。例文帳に追加

To provide a resin composition which has a good and everlasting anti-static property, an excellent electro-static eliminating property and very small dispersion in anti-static properties (saturated static charge voltage and static charge voltage half value period) and to provide a jig for transporting electronic parts made of this composition which jig has small shrinkage aeolotropy. - 特許庁

プロービング評価装置１０９は、高温時又は低温時において、プローブピン１０７との接触によるストレスによって変化するプロービング評価回路１０４における電気的特性から、プローブピン１０７の膨張又は収縮の飽和時間及び基板のプローブカード１０６に対するオーバードライブ量を求めて出力する。例文帳に追加

The probing evaluation device 109 detects such electric characteristic in the probing evaluation circuit 104 that changes due to stress caused by contact with the probing pin 107 at high or low temperature, finds a saturation time of expansion or contraction of the probe pin 107 as well as an overdrive quantity to the probe card 106 of the substrate, and outputs them as a result. - 特許庁