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顕微距離計の英語
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「顕微距離計」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 8件
距離測定装置およびこれを備えた光学干渉計、光学顕微鏡例文帳に追加
DISTANCE MEASURING DEVICE, AND OPTICAL INTERFEROMETER AND OPTICAL MICROSCOPE EQUIPPED WITH THIS - 特許庁
本発明では、従来以上の長い作動距離を有しつつ、優れた結像性能を有する中倍率程度の生物顕微鏡、工業顕微鏡に適したレンズ系を設計する。例文帳に追加
To provide a long operation distance objective lens capable of increasing the proportion of an operation distance to an entire length compared with the conventional one while having excellent image forming performance. - 特許庁
プローブが試料方向に接近している最中に、顕微鏡から得られる画像を認識して、認識領域内のプローブ面積を計算することによってプローブから試料までの距離を計算する。例文帳に追加
While the probe approaches the sample, an image acquired from the microscope is recognized, and the distance from the probe to the sample is calculated by calculating the probe area in a recognition area. - 特許庁
走査型トンネル顕微鏡の探針5をピエゾスキャナ6とピエゾスキャナ駆動回路7を用いてDNA3がRNAポリメラーゼ2の内部に取り込まれる個所の近傍に設置し、DNA3との距離をトンネル電流が計測できる一定の距離に保つ。例文帳に追加
The stylet 5 of a scanning tunneling microscope (STM) is installed in the vicinity of a point where the DNA 3 is taken into the inside of the RNA polymerase 2 and the distance between the stylet and the DNA 3 is kept to be constant to be metered with a tunnel current. - 特許庁
全体制御器9は、ビーム偏向による顕微鏡像の移動量から焦点はずれ量を計算し、焦点距離を偏向するように対物レンズ電源に指令する。例文帳に追加
An overall controller 9 computes an unfocused quantity from the movement of a microscope image caused by beam deflection, and commands to the power source of the object lens to deflect a focus distance. - 特許庁
本発明は、走査電子顕微鏡等の寸法測定装置を用いて、半導体デバイスのパターンのラフネスを評価する際に要する相関距離や分散といったようなパラメータを、正確に決定することが可能な寸法解析プログラム、寸法計測装置の提供を目的とする。例文帳に追加
To provide a size analysis program accurately determining parameters such as a correlation distance and variance required to evaluate the roughness of a pattern of a semiconductor device by using a size measurement apparatus such as a scanning electron microscope or the like, and a size measurement apparatus. - 特許庁
その結果、アダプタ20を取り換えるだけで新たなアタッチメントレンズ30を作成したり顕微鏡の取り付け位置を変更したりする等の手間や費用をかけることなく、少数のアタッチメントレンズ30で多数の作動距離を選択することができ、設計の自由度を増やすことができる。例文帳に追加
Thus, the many actuation distances are selected by the small number of the attachment lenses 30, without having to spend handling time and expense of preparing the new attachment lens 30 and to change the attaching position of the microscope only by replacing the adapter 20, so that the flexibility of design is increased. - 特許庁
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「顕微距離計」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 8件
探針/試料表面距離が不明、試料表面の空乏層 厚が不明、空乏層領域での計測が困難、という従来技術の問題点を解決し、固体表面、特に半導体表面の表面電位分布を、走査型トンネル顕微鏡を用いて高い空間分解能で定量的に計測する方法とそのための装置を提供する。例文帳に追加
To provide a method for quantitatively measuring the surface potential distribution of a solid, especially a semiconductor with high space dissolving capacity using a scanning type tunnel microscope by solving the conventional technical problem that the distance between a probe and the surface of a sample and the thickness of the depleted layer of the surface of the sample are unclear and the measurement in the depleted layer region is difficult, and an apparatus therefor. - 特許庁
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