1/4波長板の英語

また液晶ディスプレイは、液晶セル19の片側又は液晶セル20の両側に円偏光板16をその1/4 波長板側で対面配置してなる。例文帳に追加

Also the liquid crystal display is constructed by placing the circularly polarizing plates 16 opposite to the one side of a liquid crystal cell 19 or both sides of a liquid crystal cell 20 on the quarter-wave plate side. - 特許庁

本発明は楕円偏光入射による複屈折板からの射出光を1/4波長板Q_2と偏光子P_2で構成される検光子系で数２の方法により測定する。例文帳に追加

The present invention measures emission light from the double refraction plate due to the elliptically polarized light incidence by a method according to the mathematical expression 2, using an analyzer system constituted of a 1/4 wavelength plate Q_2 and a polarizer P_2. - 特許庁

膜厚測定装置は、光源４、偏光板３，６、ビームスプリッタ７、1/4波長板９、対物レンズ８、結像レンズ２、CCDセンサ１より構成される。例文帳に追加

This film thickness measuring device consists of a light source 4, polarizing plates 3, 6, a beam splitter 7, a 1/4-wavelength plate 9, an objective lens 8, an image focusing lens 2, and a CCD sensor 1. - 特許庁

さらに、偏光状態調整手段１５は被検査面の正常部と疵部との偏光特性が異なるように調整された、あるいは、設定角度をそれぞれ調節された1/4波長板および偏光板からなることとすることもできる。例文帳に追加

Further, the polarization adjusting means 15 can be also constituted of a 1/4 wavelength plate and a polarizer both of which are adjusted so that the polarization characteristics of the normal part and flaw part of the surface to be inspected are different or the set angles of them are regulated. - 特許庁

評価信号を発生させるレーザー光源１と、前記評価信号を分岐してシリコンメルト表面１０及び参照面１１に照射する偏光ビームスプリッター６と、シリコンメルト表面１０及び参照面１１から反射する反射信号を干渉させレーザー干渉信号を発生させる1/4波長板８を有する。例文帳に追加

A surface evaluating system comprises a laser light source 1 to generate an evaluation signal, a polarization beam splitter 6 to branch the evaluation signal to irradiate a silicon-melt surface 10 and a reference surface 11, and quarter waveform plates 8 to have reflection signals reflected at the silicon-melt surface 10 and the reference surface 11 with each other to generate a laser interference signal. - 特許庁