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Atomic force microscopyとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 原子間力顕微鏡、原子間力顕微鏡観察、原子間力顕微鏡法、原子間力顕微法
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該当件数 : 5件
ATOMIC FORCE MICROSCOPY AND MEASUREMENT HEAD USED FOR OTHER APPLICATION例文帳に追加
原子間力顕微鏡法及び他の用途用の測定ヘッド - 特許庁
TANDEM PIEZOELECTRIC ACTUATOR AND SINGLE DRIVE CIRCUIT FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPY例文帳に追加
原子間力の顕微鏡用タンデム形圧電アクチュエータ及び単一駆動回路 - 特許庁
Devices with these improvements have numerous applications, including molecular force measurements, atomic force microscopy and manipulation technology, lithographic manufacturing, nanometer scale surface profiling and other aspects of nanotechnology.例文帳に追加
これらの改良点を伴う装置は、分子力測定、原子間力顕微鏡、および操作技術、リソグラフィ製造、ナノメータースケールの表面形状測定、およびナノテクノロジーの他の局面を含め、多くの用途を有する。 - 特許庁
The surface lubricant index of the magnetic layer is in the range of 1.3-5.0, and the central surface mean roughness SRa in the area of 40 μm×40 μm measured by the atomic force microscopy (AFM) is equal to or less than 4 nm.例文帳に追加
前記磁性層の表面潤滑剤指数は1.3〜5.0の範囲であり、かつ原子間力顕微鏡(AFM)により測定された40μm×40μmの面積での中心面平均粗さSRaは4nm以下である。 - 特許庁
An apparatus for atomic force microscopy (AFM) comprises: a first actuator 310 configured to move a cantilever 301 along an axis; a second actuator 311 configured to move the cantilever along the axis; an amplifier 308; and a crossover network 309 connected between the amplifier 308, and the first actuator 310 and the second actuator 311.例文帳に追加
原子間力顕微鏡(AFM)用の装置は、軸に沿ってカンチレバー301を移動するように構成された第1のアクチュエータ310と、この軸に沿ってカンチレバーを移動するように構成された第2のアクチュエータ311と、増幅器308と、この増幅器308と第1のアクチュエータ310及び第2のアクチュエータ311との間に接続されたクロスオーバ回路網309とを具備する。 - 特許庁
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ライフサイエンス辞書での「Atomic force microscopy」の意味 |
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Wiktionary英語版での「Atomic force microscopy」の意味 |
atomic force microscopy
名詞
atomic force microscopy (uncountable)
- The science and technology associated with the design and use of atomic force microscopes
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