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Automatic Testing Equipmentとは 意味・読み方・使い方
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「Automatic Testing Equipment」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 10件
AUTOMATIC TESTING DEVICE AND AUTOMATIC TESTING METHOD FOR PORTABLE TERMINAL EQUIPMENT例文帳に追加
携帯端末装置の自動試験装置および自動試験方法 - 特許庁
AUTOMATIC TESTING EQUIPMENT AND DEBRIS INSPECTION METHOD例文帳に追加
自動検査装置及び異物検査方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR PROGRAMMING AND OPERATING AUTOMATIC TESTING EQUIPMENT例文帳に追加
自動テスト機器をプログラミングし操作する方法および装置 - 特許庁
SILICON-ON-INSULATOR CHANNEL ARCHITECTURE FOR AUTOMATIC TESTING EQUIPMENT例文帳に追加
自動試験装置のためのシリコン・オン・インシュレータ・チャネルアーキテクチャ - 特許庁
To simplify data of whole equipment, when using a fire detecting equipment with an automatic testing function.例文帳に追加
自動試験機能付きの火災感知器を用いる際に、設備全体のデータを簡便とする。 - 特許庁
To provide an improved method and device for programming and operating automatic testing equipment that are improved more, as compared with those of prior art.例文帳に追加
従来技術に対して、より改善された自動テスト機器をプログラミングし操作する方法および装置が要求される。 - 特許庁
To enable the automatic discrimination of externally connected equipment in an IC testing device which tests semiconductor devices by controlling the externally connected equipment.例文帳に追加
外部接続された機器を制御して半導体デバイスの試験を行うＩＣ試験装置において、外部接続された機器を自動的に判別できるようにすることを目的とする。 - 特許庁
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「Automatic Testing Equipment」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 10件
To provide automatic inspection equipment for semiconductor devices capable of highly accurately and efficiently testing a semiconductor device with a cable connected thereto.例文帳に追加
ケーブルが接続された半導体デバイスを高精度で効率良く検査することができる半導体デバイス自動検査装置を提供する。 - 特許庁
This method and device are used when testing an electronic device having source synchronizing signal output by use of an automatic test equipment(ATE).例文帳に追加
源同期信号出力を有する電子デバイスを自動試験装置（ＡＴＥ）を用いて試験するための方法および関連の装置を記載している。 - 特許庁
To provide a sequence program test equipment that boosts test work efficiency by making possible automatic recall for test action instructions when a real PLC with a communication function or a PLC emulator activated through a communication message is used for the testing instructions.例文帳に追加
通信機能を有するＰＬＣ実機若しくはＰＬＣエミュレータを使用しかつ通信メッセージを介してテスト動作の指示を与えるシーケンスプログラムのテスト装置において、テスト動作指示の自動再現を可能として、この種のシーケンスプログラムテストの作業効率を向上させること。 - 特許庁
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