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CAPABILITY TESTとは 意味・読み方・使い方
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「CAPABILITY TEST」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 57件
RECORDING MEDIUM FOR ERROR CORRECTION CAPABILITY TEST例文帳に追加
誤り訂正能力試験用記録媒体 - 特許庁
METHOD FOR SEARCHING FOR TEST RESPONSE ERROR OF SELF-TEST CIRCUIT AND METHOD FOR EVALUATING DETECTION CAPABILITY OF TEST RESPONSE ERROR例文帳に追加
自己テスト回路のテスト応答エラー探索方法およびテスト応答エラー検出能力評価方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR WAFER HAVING SELF-SHIELDING CAPABILITY AND TEST METHOD THEREOF例文帳に追加
自己遮蔽機能を有する半導体ウェーハ及びそれのテスト方法 - 特許庁
To provide a test device and a test method which can test simultaneously a plurality of memory devices of which performances such as pause capability or the like are different.例文帳に追加
ポーズ実力等の性能の異なる複数個のメモリデバイスを同時に試験することができる試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a different type inclusion test method and a test device having high detection capability of a different type inclusion.例文帳に追加
異品種の混入に対して高い検知力をもつ異品種混入検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁
Further, a testing mechanism is provided to test the redundant error detection (RED) capability itself.例文帳に追加
更に、冗長エラー検出(Redundant Error Detection, 「RED」)能力自体をテストするためのテストメカニズムが提供される。 - 特許庁
To conduct the test of the current driving capability of an output circuit in a manufacture stage and to set the output circuit to optimum current driving capability.例文帳に追加
製造段階で出力回路の電流駆動能力を試験し、出力回路を最適な電流駆動能力に設定する。 - 特許庁
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「CAPABILITY TEST」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 57件
The information processing apparatus selects a test route, a test vehicle, and a testing stuff suitable for the basic specifications, on the basis of the schedule table and the capability map concerning the basic specifications, test routes, test vehicles, and testing members.例文帳に追加
情報処理装置は、基本仕様、試験路、試験車両および試験員に関する能力マップおよびスケジュール表に基づいて該基本仕様に適した試験路、試験車両および試験員を選出する。 - 特許庁
To completely automatize airtightness test process, obtain an optimum detection capability of the waste water trap and improve reliability of test results.例文帳に追加
気密性検査工程を完全自動化できることに加えて、排水トラップに最適な検出能力を得ることができ、検査結果の信頼性を向上できる。 - 特許庁
To provide a semiconductor test device, a semiconductor memory test device, and a semiconductor memory test method in which testing capability of a semiconductor device is maximized, and factors of rise of a device cost can be minimized, and test cost is reduced.例文帳に追加
半導体デバイスのテスト能力が極大化されると共に、装置価格の上昇要因を最小化し得、テストコストも削減される半導体テスト装置、半導体メモリテスト装置および半導体メモリテスト方法を提供すること。 - 特許庁
To simplify a test of a semiconductor device having an output buffer with a small pad and a low current driving capability.例文帳に追加
小型パッドおよび低電流駆動能力の出力バッファを持つ半導体装置のテストを容易化する。 - 特許庁
To provide a cooling structure of an in-circuit test fixture which has sufficient cooling capability and miniaturizes a heat sink.例文帳に追加
十分な冷却能力を持ちヒートシンクの小型化が可能なインサーキットテストフィクスチャの冷却構造を提供する。 - 特許庁
To provide a nitriding method with the use of post plasma, which quickly nitrides a test piece and shows improved nitriding capability, and to provide an apparatus therefor.例文帳に追加
迅速な窒化工程を行い、窒化能を向上させる、ポストプラズマを用いる窒化方法および装置を提供する。 - 特許庁
To provide a network equipment testing apparatus which can respond even to small-size packets and is capable of performing a test on transfer capability and filtering at a media speed.例文帳に追加
小さいサイズのパケットにも対応し、転送能力やフィルタリングにおいて、メディアスピードでの試験を可能にする。 - 特許庁
To provide a business achievement capability management system which can carry out a test according to the level of each skill item of a user.例文帳に追加
ユーザのスキル項目毎のレベルに応じたテストを実施することができるビジネス遂行力管理システムを提供すること。 - 特許庁
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