To provide a measuring terminal in a compact Kelvin socket which achieves a reduction in time and effort in manufacturing the Kelvin socket, and to provide a method of manufacturing the measuring terminal.例文帳に追加

ケルビンソケットを小型化でき、また、ケルビンソケットを製造する際の手間及び作業時間を低減することのできる測定用端子及び測定用端子の製造方法を提供することを目的としている。 - 特許庁

SCANNING PROBE MICROSCOPE, MEASUREMENT METHOD USING SAME, AND KELVIN FORCE MICROSCOPE例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡を用いた測定方法およびその走査型プローブ顕微鏡、並びに、ケルビンフォース顕微鏡 - 特許庁

This manufacturing method is characterized in that the pressure of a superheated steam to be used is 0.2-4.0 MPa and the temperature is 1.002-1.2 times as the boiling point (Kelvin scale).例文帳に追加

使用する過熱水蒸気の圧力が０．２〜４．０ＭＰａであり、かつ、温度が沸点（ケルビン温度）の１．００２〜１．２倍であることを特徴とする。 - 特許庁

To provide an inspection method allowing sure wiping operation and Kelvin contact in the electric characteristics inspection of a semiconductor device having a bump ball.例文帳に追加

本発明は、バンプボールを有する半導体装置の電気的特性検査において、確実なワイピング動作とケルビンコンタクトを可能とする検査方法を提供する。 - 特許庁

To allow electrical characteristic inspection for a semiconductor integrated circuit using a Kelvin contact method to be conducted in a pre-process without obstructing the reduction in size of a semiconductor chip nor complicating circuit design.例文帳に追加

半導体チップの小型化を妨げたり、回路設計を煩雑にしたりすることなく、前工程においてケルビンコンタクト法を用いた半導体集積回路の電気特性検査を行うことを可能とする。 - 特許庁

To provide driver circuit and display unit using it for solving the problem, wherein when Kelvin measurements of the on-resistance for a transistor have caused increase in the pad area, as compared with the method for supplying current and measuring voltage, using one kind of needle.例文帳に追加

トランジスタのオン抵抗をケルビン測定する場合、一種類の針で電流供給と電圧測定を行う手法と比較し、パッドの面積が増大してしまう。 - 特許庁

To provide a semiconductor wafer and a semiconductor inspecting method for realizing Kelvin connection to the rear surface of wafer with a simplified structure without complication of an inspection apparatus for the inspection of electrical characteristics of a chip formed on a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウエハに形成されたチップの電気的特性の検査において、検査装置を複雑化させることなく、簡易な構成でウエハ裏面に対するケルビン接続を実現することが可能な半導体ウエハ及び半導体検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide: a simulation device for evaluating performance by forecasting an operation status of a fuel cell taking into consideration moisture distribution and gas distribution considering demonstration of a Kelvin effect; a simulation method; and a simulation program.例文帳に追加

ケルビン効果の発現を考慮した水分の分布及びガス分布を考慮して燃料電池の動作状態を予測することにより、性能を評価するためのシミュレーション装置、シミュレーション方法及びシミュレーションプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a near-field light detection method and a device therefor having excellent spatial resolution and detection sensitivity of a near field, measuring a space distribution of near-field light by examining an electric potential distribution of surface plasmon excited by the near-field light by a Kelvin force microscope having spatial resolution of an atom to a nanometer order.例文帳に追加

本発明は、原子〜ナノメートルの空間分解能を持つケルビンフォース顕微鏡により、このこの近接場光により励起される表面プラズモンの電位分布を調べることにより、近接場光の空間分布を計測するものであり、空間分解能と近接場の検出感度に優れる近接場光検出方法およびその装置を提供することを目的とする。 - 特許庁