LED testとは 意味・読み方・使い方

A controller outputs first/second LED lighting control pulses inverse in the High and Low timing to the test pattern reading part 5.例文帳に追加

制御器は、ハイとローのタイミングが逆の第１および第２のＬＥＤ点灯制御パルスをテストパターン読取部５に出力する。 - 特許庁

To test dot matrix LED display devices which are different in signal design by set makers under the same conditions.例文帳に追加

セットメーカごとに信号設計が異なるドットマトクリスＬＥＤ表示装置に於いても、同一条件でテストを行える様にすること。 - 特許庁

Next, the deflection direction of the EXB separator is inverted, and a secondary electron group discharged from the scanning point on the test piece is led to a secondary optical system.例文帳に追加

次にＥ×Ｂ分離器の偏向方向を逆にし、試料上の走査点から放出された二次電子群を二次光学系へ導く。 - 特許庁

An LED 24 is operated so that a test operation can be confirmed while the magnetic detection element 20 outputs the magnetic detection signal.例文帳に追加

磁気検出素子２０が磁気検出信号を出力している間は試験操作を確認できるようにＬＥＤ２４を動作させる。 - 特許庁

Exhaust heat from the test heads is led upward, and low-temperature chillers 16a, 16b exhaust heat, thus suppressing unstable operation caused by temperature.例文帳に追加

テストヘッドからの排熱を上方に導き、低温チラー１６ａ、１６ｂにより排熱する構成としたので、温度による不安定な動作も抑制できる。 - 特許庁

In a first IC 510 in an LED writing control circuit 502 of a writing section 500, a test pattern is formed, image data from an image memory section 301 and the test pattern formed in the first IC 510 are composed, and the composite pattern is lighted on an LED head 503.例文帳に追加

書込部５００のＬＥＤ書込制御回路５０２内の第１ＩＣ５１０にて、テストパターンを形成し、画像メモリ部３０１からの画像データと第１ＩＣ５１０で生成したテストパターンとを合成しＬＥＤヘッド５０３にて点灯させる。 - 特許庁

To provide an epoxy resin composition for sealing an LED providing a resin in which crack formation by a thermal cycle test is reduced and which has excellent light resistance, and to provide the LED device sealed by the composition.例文帳に追加

冷熱サイクルによるクラックの発生が改良され、耐光性に優れた樹脂を与えることができるＬＥＤ封止材用エポキシ樹脂組成物、及びその組成物で封止されたＬＥＤ装置を提供する。 - 特許庁

A transparent probe card is provided and covers a wafer for electrically connecting the testing pads of the LED chips via the contacts so as to perform a light-up test on the LED chips.例文帳に追加

透明プローブカードが備えられ、その透明プローブカードは、ＬＥＤチップにおいて照明試験を実行するようにコンタクトを介してＬＥＤチップの試験パッドに電気的に接続するためのウェーハを覆う。 - 特許庁