Transistor testerとは 意味・読み方・使い方

To determine a threshold of a transistor simply in a comparatively short time by using an analog tester.例文帳に追加

トランジスタの閾値判定を、アナログテスタを用いて簡単に、かつ、比較的短時間で行う。 - 特許庁

A power supply voltage VDD is supplied to the source of a transistor TrP1 through an ammeter provided in the IC tester, a ground potential GND is supplied to the source of a transistor TrN1 from the IC tester, and a voltmeter provided in the IC tester is connected to an external output terminal P1 in the case of measuring the resistance of the output buffer B1.例文帳に追加

出力バッファＢ１の抵抗値を測定する場合、ＩＣテスタ内に設けられた電流計を介してトランジスタＴｒＰ１のソースに電源電圧ＶＤＤを供給し、ＩＣテスタから接地電位ＧＮＤをトランジスタＴｒＮ１のソースに供給し、ＩＣテスタ内に設けられた電圧計を外部出力端子Ｐ１に接続する。 - 特許庁

An IC tester is thereby able to measure the voltage in the paired transistor coupling point of the first or second external terminal 29 or 35.例文帳に追加

これによりＩＣテスタは、第１または第２外部端子２９または３５の対トランジスタ結合点の電圧を測定することができる。 - 特許庁

Furthermore, the gate voltage of a PMOS transistor 11 and that of an NMOS transistor 12 in the transmission gate 8 are controlled to cause the capacity of a tester taken from an input cell 7 to be comparable with that of the PCB with the circuit device mounted thereon after the delay test.例文帳に追加

また、トランスミッションゲート８のＰＭＯＳトランジスタ１１及びＮＭＯＳトランジスタ１２のゲート電圧を制御し、入力セル７から見たテスター容量が、ＩＯ伝搬遅延試験後に本発明の第１実施形態が搭載されるＰＣＢと同程度の容量となるようにする。 - 特許庁

When a tester 40 is connected to the charging terminal 21 of the charging circuit 20, the connection is detected through signals transmitted between the tester 40 and control circuit 18 and the change-over switch 25 is switched to a grounding terminal side from the constant-voltage control circuit 24 side so as to set the transistor 23 to a saturated state.例文帳に追加

そして、充電端子２１にテスタ４０が接続された場合に、この接続をテスタ４０と制御回路１８との間の信号の授受によって検出し、この検出に応じて上記切替スイッチ２５を定電圧制御回路２４側から接地端側に切り替え、これにより電圧変換用トランジスタ２３を飽和状態に設定するようにしたものである。 - 特許庁