annular dark-field detectorとは 意味・読み方・使い方

Large-angle inelastically scattered electrons are detected by an ADF (annular dark-field) detector.発音を聞く 例文帳に追加

高角度の非弾性散乱電子は、ADF(環状暗視野)検出器によって検出される。 - 科学技術論文動詞集

INCIDENT AXIS ADJUSTING METHOD OF SCATTERED ELECTRON BEAM AGAINST ANNULAR DARK FIELD SCANNING IMAGE DETECTOR, AND SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

環状暗視野走査像検出器に対する散乱電子ビームの入射軸調整方法及び走査透過電子顕微鏡 - 特許庁

To easily carry out incident axis adjusting method of a scattered electron beam against an annular dark field scanning image detector regarding an incident axis adjusting method of a scattered electron beam against an annular dark field scanning image detector and a scanning transmission electron microscope.例文帳に追加

本発明は環状暗視野走査像検出器に対する散乱電子ビームの入射軸調整方法及び走査透過電子顕微鏡に関し、環状暗視野走査像検出器に対する散乱電子ビームの入射軸合わせ容易に行うようにすることを目的としている。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope having a scan image observation function for always passing a main beam through the center of an annular dark-field scan image detector even when scanning is carried out by a tilted electron beam on a sample.例文帳に追加

電子ビームを試料上で傾斜させて走査した場合でも、主ビームが常に円環状の暗視野走査像検出器の中心を通るようにすることができる走査像観察機能を有した透過型電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁

Therefore, the main beam transmitted through the sample 7 passes a position displaced from the center of an annular detection face by the dark-field scan image detector 10 through a locus as shown by a dotted line.例文帳に追加

したがって、試料７を透過した主ビームは、点線で軌道を示すように、暗視野走査像検出器１０の環状の検出面の中心から外れた位置を通過する。 - 特許庁