detectivityとは 意味・読み方・使い方

To provide a highly integrated semiconductor laser device which is high in output detectivity.例文帳に追加

出力検知感度の高い、高集積された半導体レーザ装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method of detecting foreign materials on the surface of a substrate capable of suppressing reduction in detectivity to enhance the detectivity of foreign materials on the surface of the substrate, and to provide a method of treating the surface of the substrate using the detection method.例文帳に追加

検出感度の低下を抑制し、表面の異物検出感度を向上させることができる基板表面の異物検出方法、及びこの検出方法に用いる基板の表面処理方法を提供する。 - 特許庁

A change decision section 15 detects the stationary change of the condition of a system as an object on the basis of the detectivity of a displaced value.例文帳に追加

変化判定部１５は、外れ値の検出率に基づいて、対象システムの状態の定常的な変化を検出する。 - 特許庁

To provide a method and a device for detecting defects in a periodic pattern realizing supersensitive defect detection without causing reduction in detectivity due to moire.例文帳に追加

モアレによって検出感度の低下をおこすことなく、高感度な欠陥検出を実現する周期性パターンの欠陥検査方法及び装置を提供する。 - 特許庁

This ammonia gas sensor 1 has a detecting element constituted of an ammonia sensitive material 7 composed mainly of a conductive polymer (ammonia-activated polymer) having ammonia detectivity.例文帳に追加

アンモニアガスセンサ１は、アンモニア検知活性を有する導電性高分子（アンモニア活性高分子）を主体に構成されたアンモニア感応体７により検出用素子が構成される。 - 特許庁

This infrared detecting method has its detectivity improved by increasing the number of carriers participating in the detection of infrared rays 20 through irradiation with light (inter-band light) 30 corresponding to inter-band energy.例文帳に追加

本発明は、バンド間エネルギーに対応する光（バンド間光）３０を照射することで赤外線２０の検出に関与するキャリアの数を増加させ検出能力を向上させる赤外線検出方法である。 - 特許庁

A signal A of H level is inputted to a scan test pin 11 to switch an internal circuit 12 to a scan test mode, an OR circuit 13 is operated to cut off a stationary current path of a cell 14 via an inner pin 14a, and a test pattern for scan tests is applied to the internal circuit 12 to execute IDDQ tests, thereby raising the failure detectivity.例文帳に追加

スキャンテストピン１１に‘Ｈ’レベルの信号Ａを入力して内部回路１２をスキャンテストモードに切り換えるとともに、オア回路１３により内部ピン１４ａを経由してセル１４の定常電流パスをオフ状態にし、スキャンテスト用のテストパターンを内部回路１２に印加してＩＤＤＱテストを行なうことにより故障検出率を高める。 - 特許庁