driver test circuitとは 意味・読み方・使い方

VOLTAGE DRIVING CIRCUIT, VOLTAGE DRIVER AND SEMICONDUCTOR DEVICE TEST DEVICE例文帳に追加

電圧駆動回路、電圧駆動装置および半導体デバイス試験装置 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR FACILITATING TEST FOR PAD-DRIVER OF INTEGRATED CIRCUIT EASY例文帳に追加

集積回路のパッド・ドライバのテストを容易にするためのシステムおよび方法 - 特許庁

To provide a TFT-LCD source driver with a built-in test circuit.例文帳に追加

テスト回路をビルトインした薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバの提供。 - 特許庁

The technique adopts a test circuit related to each row driver of the detector.例文帳に追加

本技法は、検出器の各行ドライバと関連する試験回路を採用する。 - 特許庁

The test circuit is enabled by a test enable input signal, and the row driver sequentially enables the row of the detector together with individual test circuits.例文帳に追加

試験回路は試験イネーブル入力信号によりイネーブルされ、行ドライバは個々の試験回路と共に検出器の行を順次イネーブルする。 - 特許庁

To provide a test circuit and test method for differential data driver, capable of precisely testing a differential signal, using a simple configuration.例文帳に追加

簡素な構成で精度良く差動信号のテストが可能な差動型データドライバのテスト回路及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

This circuit is provided with a test circuit 24 for delaying transmission data to be inputted to a driver 4 at the testing time.例文帳に追加

この発明は、テスト時にドライバ４に入力する送信データを遅延させるテスト回路２４を備えるようにした。 - 特許庁

To provide a semiconductor test device allowing the high density mounting of a driver circuit for switching test voltage to one or two times to apply the voltage to a device under test.例文帳に追加

本発明は、試験電圧を１倍と２倍とに切り換えて被試験デバイスに電圧印加するドライバ回路を高密度実装できる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁