driver test circuitとは 意味・読み方・使い方

To perform a speed test of a receiver circuit, without the connections of the driver circuit.例文帳に追加

レシーバ回路の速度試験をドライバ回路の接続無しに行えるようにすること。 - 特許庁

The test circuit is enabled by a test enable input signal, and the row driver sequentially enables the row of the detector together with individual test circuits.例文帳に追加

試験回路は試験イネーブル入力信号によりイネーブルされ、行ドライバは個々の試験回路と共に検出器の行を順次イネーブルする。 - 特許庁

SYSTEM AND METHOD FOR FACILITATING TEST FOR PAD-DRIVER OF INTEGRATED CIRCUIT EASY例文帳に追加

集積回路のパッド・ドライバのテストを容易にするためのシステムおよび方法 - 特許庁

TFT-LCD SOURCE DRIVER WITH BUILT-IN TEST CIRCUIT例文帳に追加

テスト回路をビルトインした薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバ - 特許庁

To provide a TFT-LCD source driver with a built-in test circuit.例文帳に追加

テスト回路をビルトインした薄膜トランジスタ液晶ディスプレイのソースドライバの提供。 - 特許庁

To provide a test circuit and test method for differential data driver, capable of precisely testing a differential signal, using a simple configuration.例文帳に追加

簡素な構成で精度良く差動信号のテストが可能な差動型データドライバのテスト回路及びテスト方法を提供する。 - 特許庁

The driver pin block 11 includes a variable delay circuit 11b for delaying a driver signal A1 output from a driver signal generation circuit 11a as long as a prescribed time in a prescribed time range, and a driving circuit 11c for generating a test signal from the driver signal through the variable delay circuit 11b.例文帳に追加

ドライバピンブロック１１は、ドライバ信号発生回路１１ａから出力されるドライバ信号Ａ１を所定の時間範囲内における所定時間だけ遅延させる可変遅延回路１１ｂと、可変遅延回路１１ｂを介したドライバ信号から試験信号を生成する駆動回路１１ｃとを備える。 - 特許庁

A space which is added to the row driver by the test circuit is very slight, and since the test circuit will not make the function of the row driver complicated, probability of failures induced in the test circuit is suppressed to be low, and the technique can be applied to high-sensitivity tests at a low cost.例文帳に追加

試験回路により行ドライバに追加されるスペースはごくわずかであり且つ試験回路が行ドライバの機能を大幅に複雑にすることもないため、試験回路で誘起される故障の確率を低く抑えた上、低コストで高度な試験に適用することができる。 - 特許庁