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ferroelectric memoriesとは 意味・読み方・使い方
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「ferroelectric memories」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 15件
FERROELECTRIC MEMORY HAVING WIDE OPERATING VOLTAGES AND TWO OR MORE BIT MEMORIES PER CELL例文帳に追加
広い動作電圧及びセル当り複数ビット記憶を持つ強誘電体メモリ - 特許庁
SENSE AMPLIFIER WITH INDEPENDENT WRITE-BACK CAPABILITY FOR FERROELECTRIC RANDOM ACCESS MEMORIES例文帳に追加
強誘電体ランダム・アクセス・メモリのための独立したライト・バック機能を備えたセンス増幅器 - 特許庁
To provide a ferroelectric film suitable for a ferroelectric capacitor having hysteresis characteristics which are suitable for any of 1T1C, 2T2C and simple matrix type ferroelectric memories.例文帳に追加
1T1C、2T2C及び単純マトリクス型強誘電体メモリのいずれにも使用可能なヒステリシス特性を持つ強誘電体キャパシタに好適な強誘電体膜を提供する。 - 特許庁
To destroy stored needless data efficiently with less power consumption in a semiconductor memory device consisting of ferroelectric memories.例文帳に追加
強誘電体メモリよりなる半導体記憶装置において、保存されている不要なデータを効率よく、かつ少ない消費電力で破壊すること。 - 特許庁
To provide a ferroelectric memory device capable of easily forming a plurality of different types of memories on the same substrate, and a method for manufacturing the same.例文帳に追加
種類の異なる複数のメモリを同一の基板上に形成することが容易な強誘電体メモリ装置およびその製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a ferroelectric memory device provided partly with a group of memories that cannot be rewritten.例文帳に追加
一部に書き換えのできないメモリ素子の群を備えた強誘電体メモリ装置を提供することにある。 - 特許庁
Then, a ferroelectric nonvolatile memory array 90 is configured by approximately parallel locating the ferroelectric nonvolatile memories 80.例文帳に追加
そして、本発明の強誘電体不揮発性メモリアレイ90は、本発明の強誘電体不揮発性メモリ80がほぼ平行に配置されて構成されている。 - 特許庁
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「ferroelectric memories」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 15件
To provide a ferroelectric memory which has a completely new cell structure capable of almost completely solving the problems which ferroelectric memories of types of 1T1C, 2T2C, simple matrix and 1T have, and capable of enabling non-destructive reading.例文帳に追加
本発明の目的は、1T1C型、2T2C型、単純マトリクス型、及び1T型強誘電体メモリの持つ課題をほぼ完全に解決する全く新しいセル構造を有し、且つ非破壊読み出しを可能とした強誘電体メモリを提供することにある。 - 特許庁
To provide a semiconductor memory in which a cycling test of the number of times of guarantee for all devices can be performed at the time of a screening test and which is constituted of ferroelectric memories.例文帳に追加
スクリーニング試験時、全てのデバイスについて保証回数のサイクリング試験を行うことができる強誘電体メモリで構成された半導体記憶装置の提供。 - 特許庁
To provide a method for fabricating a nano-scale resistance cross-point memory array which incorporates a ferroelectric ultra giant magnetic resistance based resistor having lower power consumption, lower programming current and higher capability of being integrated in high density than the other memories.例文帳に追加
他のメモリに比べて低消費電力、低プログラム電流、かつ高密度集積可能な、強誘電性超巨大磁気抵抗ベースの抵抗を組み込んだノスケール抵抗クロスポイント型メモリアレイを製造すること。 - 特許庁
To provide a technique in which especially byte size of data being inputted and outputted is selectively controlled using a nonvolatile ferroelectric substance register and compatibility with various memories is maintained for an input output byte control device using the register.例文帳に追加
本発明は不揮発性強誘電体レジスタを利用した入出力バイト制御装置に関し、特に不揮発性強誘電体レジスタを利用して入出力されるデータのバイト大きさを選択的に制御し、多様なメモリと互換性が維持できるようにする技術を開示する。 - 特許庁
The programming of data is executed by the write units which are less than blocks as erasure units, and not less than pages as program units in the flash type EEPROM memories, and the conversion table of a logical address and a physical address by the write units is stored in the ferroelectric memory.例文帳に追加
上記フラッシュ型EEPROMメモリには、イレーズ単位であるブロックより小さく、プログラム単位であるページ以上のライト単位でデータのプログラムを行い、上記強誘電体メモリには、上記ライト単位の論理アドレスと物理アドレスの変換テーブルを記憶する。 - 特許庁
The data carrier system includes: a first memory (101), which is the ferroelectric memory; a second memory (202); a polarization canceling circuit (102) for canceling polarization of the first memory in accordance with an instruction given thereto and a control circuit (103) for making data access to the first and second memories and controlling operations of the polarization canceling circuit.例文帳に追加
データキャリアシステムは、強誘電体メモリである第1のメモリ(101)と、第2のメモリ(202)と、与えられた命令に従って第1のメモリの分極消去を行う分極消去回路(102)と、第1及び第2のメモリに対するデータアクセス及び分極消去回路の動作制御を行う制御回路(103)とを備えている。 - 特許庁
A ferroelectric memory 1 includes, on a substrate 10, a voltage generation circuit 12 configured to generate a predetermined driving voltage Vint0, a driving wiring line 13 to which the driving voltage Vint0 is applied, a plurality of memories connected to the driving wiring line 13, and an internal voltage comparison circuit 14 configured to compare input potentials with each other to output a comparison result.例文帳に追加
強誘電体メモリ1において、基板10上に、所定の駆動電位Vint0を生成する電圧発生回路12、駆動電位Vint0が印加される駆動配線13、駆動配線13に接続された複数のメモリセル、入力された電位同士を比較して比較結果を出力する内部電圧比較回路14を設ける。 - 特許庁
The surfaces of the smooth electrodes (412, 422) manufactured by the DC magnetron reactive sputtering process enables relatively strong polarization and less fatigue and less imprint with aging, in ferroelectric thin-film capacitors (400, 500) used for electronic memories (600, 700, 800).例文帳に追加
本発明のDCマグネトロン反応性スパッタリングプロセスによって製造された平滑電極(412、422)の表面は、電子メモリ(600、700、800)に使用される強誘電体薄膜キャパシタ(400、500)において、エージングするにつれ、比較的強力な分極、より小さい疲労およびより小さいインプリントを、可能にする。 - 特許庁
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