group testとは 意味・読み方・使い方

TEST GROUP FORMING DEVICE AND ITS FORMING METHOD例文帳に追加

テストグループ作成装置及びその作成方法 - 特許庁

Each of the test substrates is classified and allocated to a test substrates group having a common reusable process assigned to the test substrates group.例文帳に追加

各々のテスト基板は、テスト基板のグループに割当てられた共通の再生利用プロセスを有するテスト基板のグループに分類され、配置される。 - 特許庁

METHOD FOR EVALUATING SIMULATION CIRCUIT PATTERN, METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TEST SUBSTRATE, AND GROUP OF TEST SUBSTRATES例文帳に追加

模擬回路パターン評価方法、半導体集積回路の製造方法、テスト基板、及びテスト基板群 - 特許庁

A start, test program storage means 22 downloads the test program to a memory of each device in a test device group 4.例文帳に追加

起動試験プログラム格納手段２２は、試験プログラムを試験装置群４の各装置のメモリにダウンロードする。 - 特許庁

TEST RESULT ADJUSTING SYSTEM FOR ADJUSTING TEST RESULT OF DEVICE IN GROUP AND TEST RESULT ADJUSTING METHOD例文帳に追加

グループ内のデバイスのテスト結果を調整するためのテスト結果調整システムおよびテスト結果調整方法 - 特許庁

A test result prediction apparatus 1 calculates the value of a test parameter group to be used for the test based on inputted observation data (a step S1).例文帳に追加

検定結果予測装置１では、入力された観測データに基づいて、検定に用いられる検定パラメータ群の値が算出される（ステップＳ１）。 - 特許庁

The PACS 2 searches a current image group and a past image group of the test subject based on the patient ID.例文帳に追加

ＰＡＣＳ２は患者ＩＤに基づいて、被検体の現在画像群および過去画像群を検索する。 - 特許庁

A TEG (Test Element Group) forms an electric characteristic evaluation pattern that is provided with a plurality of unit transistors T11, T12, T13, T21, T22, T23, T31, T32, and T33.例文帳に追加

ＴＥＧ（Test Element Group）１は、格子状に配列された複数の単位トランジスタＴ１１，Ｔ１２，Ｔ１３，Ｔ２１，Ｔ２２，Ｔ２３，Ｔ３１，Ｔ３２，Ｔ３３を備えた電気特性評価パターンである。 - 特許庁