observation methodsとは 意味・読み方・使い方

To provide a microscope system with which an observation object is easily tracked without causing troublesomeness on display even if operation of a microscope that causes a change of observation environment is performed when observation images obtained by imaging the same observation object by a plurality of observation methods are superposed to be observed.例文帳に追加

本発明では、同一の観察体に対して複数の観察方法で撮像した観察画像を重畳させて観察しているときに、観察環境の変化を生じさせる顕微鏡の動作が行われた場合でも、表示上の煩わしさがなく、容易に観察体の追跡を行うことができる顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁

To provide a microscope system which can easily deal with changeover of a plurality of kinds of different observation methods or simultaneous use thereof.例文帳に追加

複数の異なる観察法の切換えまたは同時使用に簡単に対応できる顕微鏡システムを提供できる。 - 特許庁

To observe specimens by various observation methods by making compatible the observation of coherent anti-Stokes Raman scattering light and fluorescence of multi-photon excitation at the same apparatus.例文帳に追加

コヒーレントアンチストークスラマン散乱光および多光子励起の蛍光の観察を同一の装置において両立することを可能とし、種々の観察方法により標本を観察する。 - 特許庁

To provide a stereomicroscope which can reduce the cost of a fiber illuminator and eliminates the need for providing the stereomicroscope with different light sources even if illumination methods are different observation methods.例文帳に追加

ファイバ照明装置のコストの低減が可能であり、また照明方法が異なった観察方法であっても異なる光源を備える必要の無い実体顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In this case, the knowledge and information of general features, observation methods and coping methods regarding the monitoring object are prepared in the storage part 5 of the monitoring device as general monitoring knowledge.例文帳に追加

ここで、監視対象に関する一般的な特徴、観測方法及び対処方法の知識及び情報が一般監視知識として監視装置の記憶部５に用意されている。 - 特許庁

ELECTRON DETECTING DEVICE, CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND PROCESSING, OBSERVATION, INSPECTION METHODS FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE例文帳に追加

電子検出装置，荷電粒子ビーム装置，半導体集積回路装置、および半導体集積回路装置の加工，観察，検査方法 - 特許庁

To provide light source apparatus capable of reducing distortion of an irradiated region observed by an observation section, and to provide an exposure apparatus and a device manufacturing methods.例文帳に追加

観察部によって観察された被照射領域の歪みを低減させることができる光源装置、露光装置及びデバイスの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope that is easy to operate and that requires a user to replace a component on the optical axis with as a few steps as possible when switching observation methods.例文帳に追加

観察方法の切換え時の光軸上に対する素子の挿脱操作を１回でも少ない回数で行える操作性のよい顕微鏡を提供する。 - 特許庁