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日英・英日専門用語辞書での「parallel test」の意味

parallel test


「parallel test」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 277



例文

PARALLEL TEST APPARATUS例文帳に追加

並列試験装置 - 特許庁

PARALLEL SCAN TEST SOFTWARE例文帳に追加

パラレルスキャンテストソフトウェア - 特許庁

BANK SELECTABLE PARALLEL TEST CIRCUIT AND PARALLEL TEST METHOD THEREOF例文帳に追加

バンク選択が可能な並列テスト回路及び該並列テスト方法 - 特許庁

PARALLEL BIT TEST DEVICE AND METHOD例文帳に追加

並列ビットテスト装置及び方法。 - 特許庁

PARALLEL IC TERMINAL CONNECTING TEST CLIP例文帳に追加

並列IC端子接続テストクリップ - 特許庁

To test a printer on a parallel port:発音を聞く 例文帳に追加

パラレルポートのプリンタをテストするために - FreeBSD

例文

PARALLEL TEST SYSTEM FOR SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICES例文帳に追加

半導体メモリ素子の並列テストシステム - 特許庁

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「parallel test」の部分一致の例文検索結果

該当件数 : 277



例文

PARALLEL TEST CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR MEMORY ELEMENT例文帳に追加

半導体記憶素子の並列テスト回路 - 特許庁

PARALLEL GENERATION METHOD FOR TEST PATTERN AND GENERATION APPARATUS FOR TEST PATTERN例文帳に追加

テストパターンの並列生成方法およびテストパターン生成装置 - 特許庁

To provide a parallel bit test method and a parallel bit test circuit of a semiconductor memory device.例文帳に追加

半導体メモリ装置の並列ビットテスト方法及び並列ビットテスト回路を提供する。 - 特許庁

PARALLEL BIT TEST METHOD AND ITS TEST CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE例文帳に追加

半導体メモリ装置の並列ビットテスト方法及びそのテスト回路 - 特許庁

It is possible to test a plurality of the memories in parallel by supplying the test address information from the common test bus to a plurality of the memories in parallel.例文帳に追加

複数のメモリに共通テストバスから並列にテストアドレス情報を供給して並列テスト可能になる。 - 特許庁

The timing test and the bit level test are allowed to be carried out in parallel.例文帳に追加

タイミング試験及びビット・レベル試験は、並行して行うこともできる。 - 特許庁

To reduce the number of parallel test buses extending parallel within a wiring area.例文帳に追加

配線エリア内を並走するパラレルテスト用のバスの本数を削減する。 - 特許庁

例文

To execute a plurality of test programs in parallel.例文帳に追加

複数の試験プログラムを並行して実行させる。 - 特許庁

>>例文の一覧を見る

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