parallel testingとは 意味・読み方・使い方

To provide a permeation testing apparatus capable of testing permeability of a plurality of samples in parallel, using a simple constitution.例文帳に追加

簡易な構成で多数の試料の透過性を並行して試験することが可能な透過試験装置を提供する。 - 特許庁

To perform correct testing irrespective of presence of replacement even when a plurality of memory blocks are simultaneously accessed during parallel testing.例文帳に追加

パラレルテストにおいて複数のメモリブロックに同時にアクセスする場合であっても、置換の有無に関わらず正しくテストを行う。 - 特許庁

In response to it, the parallel testing devices 2-1 to 2-N execute the parallel testing programs P-1 to P-N and perform testing processing to a DUT 4 by measuring devices 3-1 to 3-N.例文帳に追加

これに応答して、並列試験装置２−１〜２−Ｎはそれぞれ、並列試験プログラムＰ−１〜Ｐ−Ｎを実行して、計測用装置３−１〜３−Ｎを用いてＤＵＴ４に対する試験処理を行う。 - 特許庁

To provide a testing system and a testing method, capable of testing a plurality of semiconductor devices stably in parallel, without causing the circuit size of the semiconductor devices to increase.例文帳に追加

半導体装置の回路規模を増大させることなく、複数の半導体装置を並行して安定に試験することが可能なテスト装置およびテスト方法を提供する。 - 特許庁

Sequence for testing circuit block of discrete die is selected in order to optimize testing time of a set of dies to be parallel-tested.例文帳に追加

個別のダイの回路ブロックをテストするためのシーケンスは、並列テストが実施されるダイのセットのテスト時間を最適化するために選択される。 - 特許庁

To enhance expandability of a parallel testing system by miniaturizing its entire configuration.例文帳に追加

並列試験システム全体の構成を小型にし、当該並列試験システムの拡張性を高める。 - 特許庁

To reduce the testing time by conducting the test of a memory to be tested and the analysis of a defect in parallel.例文帳に追加

被試験メモリの試験と不良解析を並行処理することによって試験時間を短縮する。 - 特許庁

To provide a device testing resistance values of on die termination (ODT) of all pads in parallel.例文帳に追加

全てのパッドのオンダイターミネーション（ＯＤＴ）抵抗値テストをパラレルに行うことが可能な装置を提供する。 - 特許庁