polarization microscopeとは 意味・読み方・使い方

SCANNING NONLINEAR DIELECTRIC-CONSTANT MICROSCOPE FOR MEASURING THREE-DIMENSIONAL POLARIZATION例文帳に追加

三次元分極計測用の走査型非線形誘電率顕微鏡 - 特許庁

METHOD OF SENSING SCATTERED LIGHT, POLARIZATION MODULATOR, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE例文帳に追加

散乱光検出方法、偏光変調装置及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁

OPTICAL DEVICE, METHOD OF MANUFACTURING OPTICAL DEVICE, RECTIFIER AND POLARIZATION MICROSCOPE例文帳に追加

光学素子、光学素子の製造方法、レクティファイア、及び偏光顕微鏡 - 特許庁

NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND POLARIZATION EVALUATING METHOD USING THE SAME例文帳に追加

近接場光学顕微鏡及びそれを用いた偏光評価方法 - 特許庁

To provide a polarization control element capable of keeping light in a predetermined polarized state, a method for manufacturing the polarization control element and a laser microscope using the polarization control element.例文帳に追加

所定の偏光状態にすることができる偏光制御素子及びその製造方法、並びにそれを用いたレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This microscope is provided with a light source 17 emitting coherent light and a polarization variable element 18 changing the phase difference of x-polarization and y-polarization of the light.例文帳に追加

可干渉光を発する光源１７と、この光のｘ偏波とｙ偏波の位相差を変える偏波可変素子１８とを有する。 - 特許庁

To provide a polarization correction optical system that corrects changes in a polarization state caused by an optical system constituting a microscope device, and to provide a microscope device equipped with the polarization correction optical system.例文帳に追加

顕微鏡装置を構成する光学系により生じる偏光状態の変化を補正する偏光補正光学系及びこの偏光補正光学系を備える顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To provide a position determination method capable of easily determining the position of a measuring object in electron microscope observation from position information or the like of the measuring object acquired by observation by a first microscope such as an optical microscope, a phase contrast microscope, a differential interference microscope or a polarization microscope.例文帳に追加

光学顕微鏡、位相差顕微鏡、微分干渉顕微鏡または偏光顕微鏡等の第１の顕微鏡で観察した測定対象物の位置情報等から電子顕微鏡観察における測定対象物の位置を簡単に求めることができる位置決定方法を提供する。 - 特許庁