偏光反射顕微鏡の英語

ＯＣＴシステムのコリメーティング光学素子によって形成された測定光ビームは、ビームスキャナによって偏向され、結像光学素子を横断し、反射器によって反射され、測定光ビームが顕微鏡光学素子の対物レンズを横断し、顕微鏡光学素子の物体領域に照射される。例文帳に追加

A beam of measuring light formed by collimating optics of an OCT system is deflected by a beam scanner, traverses imaging optics, and is reflected by a reflector so that the beam of measuring light traverses an objective lens of microscopy optics and is directed to an object region of the microscopy optics. - 特許庁

第一の鏡筒上部１３０は、鏡筒基部１１０が取り付けられる顕微鏡本体からの光束を、常時、鏡筒基部１１０の反射ミラー１２０に向けて偏向する反射ミラー１４０を有している。例文帳に追加

The first lens-barrel upper part 130 has a reflection mirror 140 to deflect the luminous flux from a microscope body to which the lens-barrel base 110 is attached toward a reflection mirror 120 of the lens-barrel base 110 at all times. - 特許庁

立体顕微鏡の一対の撮影光学系の被写体光が各反射部材に反射されることにより生じる左右の被写体像の夫々の照度の偏りを補正し、均等な明るさを有する左右の像を撮像面に形成する。例文帳に追加

To form right and left images having uniform brightness on an image pickup surface by correcting the respective deviation of the illuminance of right and left subject images caused by that the object light of the pair of photographing optical systems of a stereoscopic microscope is reflected by each reflection member. - 特許庁

走査型共焦点顕微鏡の走査部は、光束を一方向に沿って偏向する第１の反射鏡６１１と、第１の反射鏡６１１が偏向した光束を前記方向に沿ってさらに偏向する第２の反射鏡６１３と、第１および第２の反射鏡の向きを同期させて回転させる駆動部とを備える。例文帳に追加

The scanning part of the scanning type confocal microscope is provided with a 1st reflection mirror 611 deflecting luminous flux along one direction, a 2nd reflection mirror 613 deflecting the luminous flux deflected by the mirror 611 along the above mentioned direction and a driving part rotating the mirrors 611 and 613 by synchronizing the directions thereof. - 特許庁

顕微鏡部２００は、光源部１００からの光のうち特定の偏光成分だけを測定対象物３１，３２に向けて反射するビームスプリッタ２９と、このビームスプリッタ２９により反射された光を平行光に変換する対物レンズ３０と、測定対象物３１，３２からの反射光を検出するカラー撮像部３５を備えている。例文帳に追加

The section 200 is provided with a beam splitter 29 which reflects the specific polarized light component of the light rays emitted from the section 100 toward the objects 31 and 32, an objective lens 30 which transforms the light rays reflected by the beam splitter 29 into the parallel rays of light, and a color image pickup section 35 which detects reflected light rays from the objects 31 and 32. - 特許庁

本発明の半導体装置の故障解析方法は、偏光顕微鏡２０を用いた偏光法により、ゲート配線４Ａと配線８Ｂ間のコンタクト部における形状不良（例えば、断線箇所１３の存在）を当該コンタクト部に光を照射し、その反射光の方向成分を観察することで、上記コンタクト部における形状不良（例えば、断線箇所１３の存在）を検出することを特徴とする。例文帳に追加

In the fault analyzing method of the semiconductor device, the shape defect (existence of disconnection part 13, for example) in the contact part between gate wiring 4A and wiring 8B is detected by irradiating the contact part with light and observing the direction component of reflected light by a polarizing method using a polarized microscope 20. - 特許庁

顕微鏡対物レンズの辺縁部にレーザ光を導入しこのレーザ光の照明方向を回転可能にした照明光学系において、常に対物レンズ光軸中心からの放射状方向と直角方向の横波成分のみを持つエバネセント場で照明する回転式輪帯偏光全反射照明光学系とした。例文帳に追加

By providing a bar-like projection on the illumination system, the vibrating direction of rotating polarized light not made visible ordinarily is easily detected in the visual field of the microscope and rotating speed is read from a rotation driving control system. - 特許庁