reference test methodとは 意味・読み方・使い方

REFERENCE HEAT SOURCE FOR ELECTROMAGNETIC WAVE TEST TO INFRARED RADIATION MEASURING DEVICE, AND METHOD FOR TESTING THEREOF例文帳に追加

赤外放射計測機器の電磁波試験用参照熱源及びその試験方法 - 特許庁

To test a memory being operated at higher speed by a test apparatus generating a reference clock of low speed in a memory test method.例文帳に追加

本発明はメモリ試験方法に関し，低速度の基準クロックを発生する試験装置により高速で動作するメモリの試験を行うことを可能にすることを目的とする。 - 特許庁

IC TESTER, REFERENCE POSITION SETTING EQUIPMENT FOR ITS TEST HEAD, AND CONNECTION POSITION CONTROLLING METHOD FOR ITS CONNECTION MECHANISM例文帳に追加

ＩＣテスタ、そのテストヘッド用基準位置設定器具、及びその接続機構の接続位置制御方法 - 特許庁

REFERENCE KIT FOR DIAGNOSTIC TEST AND KIT FOR TESTING NUCLEIC ACID HYBRIDIZATION, AND METHOD FOR PRODUCING THE KITS例文帳に追加

診断検定用対照キットおよび核酸ハイブリッド形成検定用キット並びにそれらの製造方法 - 特許庁

This method includes a step in which a reinitialization mode is performed without verifying the recording and reproducing device by using a disk for test having test reference information and test information is subsequently generated from generated defect management information, and a step in which reference information predicted by the test reference information is compared with the test information and verification results about the test information is provided.例文帳に追加

テスト基準情報を有するテスト用ディスクを使用して記録及び再生装置の検証をせずに再初期化モードを行った後、生成された欠陥管理情報からテスト情報を生成する段階と、テスト基準情報により予測された基準情報とテスト情報とを比較してテスト情報に関する検証結果を提供する段階とを含む。 - 特許庁

To provide a prober capable of conducting an accurate test without reference to variation in test temperature, and a semiconductor wafer testing method using the same.例文帳に追加

検査温度の変化にかかわらず、正確な検査を行なうことが可能なプローブ装置及びそれを用いた半導体ウェハの検査方法を提供する。 - 特許庁

This method includes a step in which a reinitialization mode is performed while examining the recorder/player by using a disk for test having test reference information and a physical defect and test information is subsequently generated from generated defect management information, and a step in which reference information predicted form the test reference information and the physical defect is compared with the test information and verification results about the test information are provided.例文帳に追加

テスト基準情報と物理的な欠陥を有するテスト用ディスクを使用して記録及び再生装置の検定をしながら再初期化モードを行った後、生成された欠陥管理情報からテスト情報を生成する段階と、テスト基準情報と物理的な欠陥により予測された基準情報とテスト情報とを比較してテスト情報に関する検証結果を提供する段階とを含む。 - 特許庁

To provide a test method and a test device for a semiconductor wafer by which a test can be conducted in a state that the contact resistance of a probe and a test pad of the semiconductor wafer is reduced to a reference value and the test can be conducted with contact resistance which is always the same.例文帳に追加

プローブ針と半導体ウェーハのテストパッドとの接触抵抗を基準値まで低減させた状態でテストすることが可能であり、常に同一の接触抵抗でテストをすることが可能となる半導体ウェーハのテスト方法及び装置を提供する。 - 特許庁