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selected area diffractionとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 制限視野回折
「selected area diffraction」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 11件
This figure illustrates three modes of electron diffraction: selected-area electron diffraction, nano-area electron diffraction and convergent-beam electron diffraction.発音を聞く 例文帳に追加
この図は、電子回折の3つのモードを説明する: 制限視野回折、ナノ領域電子回折、収束電子回折である。 - 科学技術論文動詞集
Selected area diffraction enables us to take diffraction patterns from small areas of the specimen.発音を聞く 例文帳に追加
制限視野回折は、われわれに試料の微小領域から回折図形を取得することを可能にする。 - 科学技術論文動詞集
The divergence angle can be measured accurately by selected-area diffraction.発音を聞く 例文帳に追加
発散角は、制限視野回折によって正確に測定できる。 - 科学技術論文動詞集
A selected area diffraction pattern was superimposed on the micrograph.発音を聞く 例文帳に追加
制限視野回折図形が顕微鏡像の上に重ね焼きされた。 - 科学技術論文動詞集
Selected area diffraction can identify phases of crystalline materials.発音を聞く 例文帳に追加
制限視野回折は、結晶材料の相を同定することができる。 - 科学技術論文動詞集
Selected-area diffraction patters are taken from small areas of the specimen.発音を聞く 例文帳に追加
制限視野回折図形は、試料の微小領域から取得される。 - 科学技術論文動詞集
In the SAD (selected-area diffraction) mode, the specimen area that contributes to the diffraction pattern is defined by a selector aperture.発音を聞く 例文帳に追加
SAD(制限視野回折)モードでは、回折図形に寄与する試料領域はセレクター絞りによって限定される。 - 科学技術論文動詞集
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ウィキペディア英語版での「selected area diffraction」の意味 |
Selected area diffraction
出典:『Wikipedia』 (2011/01/28 14:52 UTC 版)
「selected area diffraction」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 11件
In selected-area diffraction, an area of the order of 0.1 to 1 μm across is selected by an aperture in the first intermediate image.発音を聞く 例文帳に追加
制限視野回折では、0.1〜1ミクロンのオーダーに亘る領域が、第1中間像の中の(に入れられる)絞りによって選ばれる。 - 科学技術論文動詞集
To assess the accuracy of selected area diffraction, bright-field and dark-field images were taken.発音を聞く 例文帳に追加
制限視野回折の精度を評価(検討)するために、明視野像と暗視野像を取得した。 - 科学技術論文動詞集
It should be noted that for correct operation of selected area diffraction, the intermediate image plane is fixed.発音を聞く 例文帳に追加
制限視野回折の正しい操作のためには、中間像面が固定されることに注意(留意)するべきである。 - 科学技術論文動詞集
To provide a selected area aperture plate, a manufacturing method of the same and the like, in which a fine pore can be formed while maintaining mechanical strength, and which is suitable for observing a selected area electron diffraction image of a TEM.例文帳に追加
機械的強度を維持しつつ微細孔を形成することができ、TEMの制限視野電子回折像観察に好適な制限視野絞りプレート及びその製造方法等を提供する。 - 特許庁
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