semiconductionとは 意味・読み方・使い方

WAFER HOLDER FOR SEMICONDUCTION PRODUCTION SYSTEM AND SEMICONDUCTOR PRODUCTION SYSTEM MOUNTING IT例文帳に追加

半導体製造装置用ウェハ保持体およびそれを搭載した半導体製造装置 - 特許庁

The durable/heat-resistant seamless tubular film having semiconduction comprises further 1-30 wt.% (based on the resin) of electroconductive carbon black besides the main components.例文帳に追加

叉、これに更に導電性カーボンブラックを１〜３０重量％（対該樹脂）含有して、半導電性も付与した該管状フィルムも提供する。 - 特許庁

To obtain a cassette for a substrate, having a surface resistivity controllable to a fixed value in a semiconduction range, excellent fluidity, dust prevention and mechanical characteristics and extremely small oozing out of impurities on the surface of a substrate.例文帳に追加

表面抵抗率を半導電性領域の所望の値に制御することが可能で、流動性、発塵防止性、及び機械的特性に優れ、かつ、基板表面への不純物の滲み出しが極めて少ない基板用カセットを提供すること。 - 特許庁

To provide a seamless belt which is suitable to the photoreceptor, intermediate transfer body, conveyor belt, etc., of an electrostatic type copying machine, a printer, etc., and can stably obtain desired semiconduction characteristics along the thickness and surface of the seamless belt.例文帳に追加

静電式複写機、プリンタ等の感光体、中間転写体、搬送ベルト等に適した、シームレスベルトの厚さ方向及び面方向で、所望の半導電特性を安定して得ることのできるシームレスベルトを提供する。 - 特許庁

To provide a thienothiophene compound usable as a monomer component of a thienothiophene copolymer exhibiting semiconduction, having high electroconductivity in the state of being doped with an anion, and having atmospheric stability without a decrease in electroconductivity by air exposure.例文帳に追加

半導体性を示し、アニオンでドープされた状態において高い導電性を有し、かつ大気曝露によって導電性が低下することなく大気安定性を有するチエノチオフェン共重合体のモノマー成分となるチエノチオフェン化合物を提供する。 - 特許庁

A method for measuring impurity distribution of a semiconductor device provided with a p-type semiconductor region and an n-type semiconductor region includes an observation step of acquiring an SEM image of an observation face including the p-type semiconductor region and the n-type semiconduction region while applying a reverse bias voltage to the p-type semiconductor region and the n-type semiconductor region.例文帳に追加

この不純物分布測定方法は、ｐ型半導体領域及びｎ型半導体領域を備える半導体装置の不純物分布を測定する方法であって、ｐ型半導体領域及びｎ型半導体領域に逆バイアス電圧を印加しつつ、ｐ型半導体領域及びｎ型半導体領域を含む観察面のＳＥＭ像を取得する観察工程を含む。 - 特許庁