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testing timeとは 意味・読み方・使い方
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意味・対訳 試験時間; テスト時期
「testing time」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 913件
To provide testing device, test method and integrated circuit for testing a circuit having a counter, in a short time.例文帳に追加
カウンタを有する回路のテストを短時間で行うこと。 - 特許庁
To reduce the total time for a testing for a semiconductor device testing system.例文帳に追加
半導体装置の試験システムの試験の総時間の短縮。 - 特許庁
SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE AND SEMICONDUCTOR TESTING TIME OPTIMIZING METHOD例文帳に追加
半導体テスト装置および半導体テスト時間最適化方法 - 特許庁
TESTING METHOD AND TESTING CIRCUIT FOR MEASURING OUTPUT DELAY TIME例文帳に追加
出力遅延時間測定用テスト方法およびそのテスト回路 - 特許庁
MULTI-CHIP PACKAGE CAPABLE OF SHORTENING TESTING TIME例文帳に追加
テストタイムを短縮できるマルチチップパッケージ - 特許庁
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「testing time」の部分一致の例文検索結果
該当件数 : 913件
To shorten total testing time, in the testing of a circuit to be tested.例文帳に追加
被試験回路をテストする場合の総合的なテスト時間を短縮する。 - 特許庁
Operation testing machine, insulation resistance tester, withstand voltage testing device, temperature testing device, and delay time measuring device発音を聞く 例文帳に追加
作動試験用機械、絶縁抵抗計、耐電圧試験装置、温度試験装置及び遅動時間測定装置 - 日本法令外国語訳データベースシステム
INCREASE OF INTERNAL CLOCK FOR SHORTENING TESTING TIME例文帳に追加
テスト時間短縮のための内部クロックの増大 - 特許庁
To provide an address line of flash memory for shortening the testing time, a testing method of a testing device, and the testing device.例文帳に追加
試験時間の短縮化を図ったフラッシュメモリのアドレス線及び試験装置の試験方法及び試験装置を提供することを課題とする。 - 特許庁
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