transmitted electronとは 意味・読み方・使い方

The transmitted electron beam 3a is incident on an image detector 8 through a slit 6 and the image detector 8 obtains an electron beam diffraction image by the incident transmitted electron beam 3a.例文帳に追加

透過電子線３ａはスリット６を介して画像検出装置８に入射され、画像検出装置８は、入射された透過電子線３ａによって電子線回折像を得る。 - 特許庁

The electron beams 2 transmitted through the beam limit aperture 6 form the image of the electron radiation surface of the electron source 1 on the forming aperture 7 by a condenser lens 5.例文帳に追加

ビーム制限アパーチャ６を透過した電子線２は、コンデンサレンズ５により、電子源１の電子放出面の像を成型アパーチャ７上に形成する。 - 特許庁

The attenuation quantity of the electron beam transmitted through the transmission film is reduced, and resultantly electron beam energy and its density can be heightened.例文帳に追加

透過膜を透過する電子線の減衰量が減少し、結果的に、電子線のエネルギーとその密度を高くすることができる。 - 特許庁

In this case, the detecting light transmitted through the optical absorption layer 3 reaches an electron emitting layer 4.例文帳に追加

光吸収層３を透過した被検出光は、電子放出層４に達する。 - 特許庁

The electron microscope, with an image forming lens system to project electron beams transmitted through a sample to an image forming part and a TV detector to receive transmitted and projected electron beams at the image forming part, has a detection means to detect displacement between transmitted and projected electron beams and the TV detector, and a positioning means to position the transmitted electron beams and the TV detector based on the displacement information detected.例文帳に追加

試料を透過した電子線を結像部に投影する結像レンズ系と、投影された透過電子線を結像部で受光するＴＶ検出器とを備えた電子顕微鏡において、投影された透過電子線とＴＶ検出器との間の位置ずれを検出する位置ずれ検出手段と、検出された位置ずれ情報に基づいて透過電子線とＴＶ検出器の位置合わせをする位置合わせ手段とを設けた。 - 特許庁

Thereby, the heat capacity of the electron beam shielding plate generated by collision of an electron beam is easily transmitted to the temperature correction adjusting members.例文帳に追加

これにより、電子ビームの射突によって生じた電子ビーム遮蔽板の熱容量が温度補正調整部材に伝導しやすくなる。 - 特許庁

Thereafter, the position of the transmitted electron beam image at the second magnifying power with respect to an image picking-up means is corrected so that the moving amount may become zero (S28) and an obtained transmitted electron beam image is recorded (S29).例文帳に追加

そして、移動量がゼロになるように撮像手段に対する第２の倍率の透過電子線像の位置を補正し（Ｓ２８）、得られた透過電子線像を記録する（Ｓ２９）。 - 特許庁

This electron beam device irradiates a stencil mask 800 with electron beams emitted from an electron gun 710, and the electron beams transmitted through the stencil mask 800 are amplified by an electron lens and detected by a detector having a plurality of picture elements, and an image of a testpiece is formed.例文帳に追加

本発明は、上記課題を解決すべく電子銃７１０から放出された電子線をステンシルマスク８００に照射し、ステンシルマスク８００を透過した電子線を電子レンズで拡大して複数の画素を有する検出器で検出して試料の画像を形成する電子線装置である。 - 特許庁