transmitted electron microscopeとは 意味・読み方・使い方

TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE DEVICE AND TRANSMITTED ELECTRON EXAMINATION DEVICE AND EXAMINATION METHOD例文帳に追加

透過電子顕微鏡装置および透過電子検査装置並びに検査方法 - 特許庁

SCANNING TRANSMITTED IMAGE AND MAGNIFICATION OF TRANSMITTED IMAGE/ROTATION CORRECTION METHOD AND SCANNING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE例文帳に追加

走査透過像と透過像の倍率・回転補正方法及び走査透過型電子顕微鏡 - 特許庁

To provide a control device of a transmission electron microscope which can facilitate alignment of a transmitted wave and a through-hole of a phase plate.例文帳に追加

透過波と位相板の貫通孔との間のアライメントを容易化できる透過電子顕微鏡の制御装置を提供する。 - 特許庁

The electron microscope, with an image forming lens system to project electron beams transmitted through a sample to an image forming part and a TV detector to receive transmitted and projected electron beams at the image forming part, has a detection means to detect displacement between transmitted and projected electron beams and the TV detector, and a positioning means to position the transmitted electron beams and the TV detector based on the displacement information detected.例文帳に追加

試料を透過した電子線を結像部に投影する結像レンズ系と、投影された透過電子線を結像部で受光するＴＶ検出器とを備えた電子顕微鏡において、投影された透過電子線とＴＶ検出器との間の位置ずれを検出する位置ずれ検出手段と、検出された位置ずれ情報に基づいて透過電子線とＴＶ検出器の位置合わせをする位置合わせ手段とを設けた。 - 特許庁

A thin-film part 16 for allowing electrons from a transmission- type electron microscope to be transmitted is formed at a part where a semiconductor is observed, and a specific etching treatment is made to the thin-film part 16, thus preparing a semiconductor sample 13 for the transmission-type electron microscope.例文帳に追加

半導体１０の観察を受ける部分に透過型電子顕微鏡からの電子の透過を許す薄膜部１６を形成し、該薄膜部に所定のエッチング処理を施して透過型電子顕微鏡用半導体試料１３を作成する方法。 - 特許庁

The converged electron beam 2 allowed to irradiate a semiconductor device 1 from a transmission electron microscope 4 transmits through the semiconductor device 1 as transmitted electron beam 3 to be allowed to be incident on a magnetic field deflecting type energy filter 7 through a slit 5.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡４から半導体装置１に照射された収束電子線２は、透過電子線３として半導体装置１を透過し、スリット５を介して磁場偏向型エネルギーフィルタ７に入射される。 - 特許庁

The visual field of the transmission electron microscope is searched at a first magnifying power and sample stage coordinates to be recorded, designated on the transmitted electron beam image of a sample displayed in an image display section are calculated and stored (S13 and S14).例文帳に追加

第１の倍率で視野探しを行い、画像表示部に表示された試料の透過電子線像上で指定された記録対象の試料ステージ座標を計算し、記憶する（Ｓ１３，Ｓ１４）。 - 特許庁